某型DC/DC的電離總劑量輻照試驗案例

    DC/DC屬于混合電路,其內(nèi)部既M24C64-WMN6TP有MOs器件也有雙極器件,在進行電離總劑量輻照試驗時,不能采用MOS器件的試驗流程,而是應該采用雙極器件的試驗流程。

   l)劑量率和總劑量

   考慮到現(xiàn)實的試驗周期及試驗經(jīng)費的原因,劑量率條件選擇條件B,劑量率為0,001Gy(Si)人(±10%),規(guī)定總劑量為100OGy(Si)。

   2)電參數(shù)測試要求

   總劑量輻照試驗前后的測試采用移位測試。在電參數(shù)測量時,先用對比樣品進行測量系統(tǒng)檢查,測試數(shù)據(jù)和被試樣品的測試數(shù)據(jù)一起保存。輻照前、后的電參數(shù)測試應在同一測試系統(tǒng)上進行,且測試項目的順序和測試條件應保持不變,且電參數(shù)測試的時間間隔遵守如下規(guī)定:

   (1)輻照結(jié)束到開始電參數(shù)測試的時間間隔不得超過lh;

   (2)上一次輻照結(jié)束到下一次輻照開始之間的時間間隔不得超過2h。

   如果輻照后的電參數(shù)測試采用移位測試的方式進行,那么將器件從輻射源移至測試地點進行測試,以及測試完畢返回輻射源繼續(xù)進行輻照的過程中,應將器件的所有引腳短接。

   3)試驗流程

   試驗流程采用雙極器件的試驗流程(見圖3-13)進行,具體如下:

   第一步:進行電參數(shù)測試,測試結(jié)果符合詳細規(guī)范要求。

   第二步:試驗現(xiàn)場布置,根據(jù)選擇的劑量率,將輻照試驗板放置在制定的位置,并驗證通信正常。

   第三步:開始輻照試驗,試驗過程中每隔10krad(si)記錄電源電流一次。

   第四步:當輻照總劑量達到100lcad(Si)時,輻照結(jié)束。將器件的引腳短接在一起,運輸至電參數(shù)測試場所進行電參數(shù)測試。