DPA技術(shù)與其他質(zhì)量分析的關(guān)系
發(fā)布時間:2019/5/27 20:09:31 訪問次數(shù):7788
DPA技術(shù)與其他質(zhì)量分析的關(guān)系
評價元器件的質(zhì)量水平的主要途徑有生產(chǎn)進(jìn)貨檢驗、篩選、失效分析、質(zhì)量一致性檢驗和DPA等。ACS712-5A雖然在這些方法和措施中有許多的試驗項目會相同,但其評價元器件的質(zhì)量水平的側(cè)重點、全面性和在元器件的生命周期中評價時段各不相同ε這些方法各有所長,在元器件的生命周期內(nèi)應(yīng)有效地結(jié)合使用才能達(dá)到最佳的質(zhì)量效益比.
(1)與進(jìn)貨檢驗的關(guān)系。生產(chǎn)進(jìn)貨檢驗是在元器件上機前對其進(jìn)行的成品、半成品的檢驗,主要是采用箔i單的電測量、外觀觀察以及在低倍顯微鏡下的檢查等手段,以發(fā)現(xiàn)并剔除存在缺陷的元器件。這種檢驗通常是百分之百進(jìn)行的,且費用一般比較低,是一種非常有效的質(zhì)量控制方法,但它不能分析元器件內(nèi)部隱藏的缺陷,所以,必須與其他質(zhì)量控制技術(shù)配套使用,才能真正起到保障元器件質(zhì)量的作用。
(2)與篩選的關(guān)系。篩選就是對元器件進(jìn)行的老練篩選試驗,即對生產(chǎn)的元器件(一般要求10O%進(jìn)行)在經(jīng)過一定的環(huán)境老練試驗(如高溫老練試驗)后,測量其功能狀況,剔除失效產(chǎn)品,可見篩選的目的是剔除早期失效。篩選叉可分為一次篩選和二次篩選。一次篩選是在元器件出廠前由生產(chǎn)方進(jìn)行的,二次篩選是在元器件采購后或上機前由使用方進(jìn)行的。兩次篩選試驗的環(huán)境老練條件可相同,也可根據(jù)使用環(huán)情況進(jìn)行不同的有針對性的老練試驗,不管老練試驗是否相冂,二次篩選試驗在某些情況下還是有必要進(jìn)行的,因為產(chǎn)品的早期失效并不能在一次篩選后就能暴露出來,尤其在元器件使用前經(jīng)過了很長的存儲時間后,失效就I刂能會暴露出來了。老練試驗環(huán)境條件的選取是篩選試驗的難點,因為老練條件太苛刻,尢器件就會損壞或受到損傷,壽命降低,如條件不夠,就不能有效暴露元器件的早期篩選,失去了試驗的目的,老練環(huán)境條件的選取可參考有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和進(jìn)行相關(guān)試驗得出。
DPA技術(shù)與其他質(zhì)量分析的關(guān)系
評價元器件的質(zhì)量水平的主要途徑有生產(chǎn)進(jìn)貨檢驗、篩選、失效分析、質(zhì)量一致性檢驗和DPA等。ACS712-5A雖然在這些方法和措施中有許多的試驗項目會相同,但其評價元器件的質(zhì)量水平的側(cè)重點、全面性和在元器件的生命周期中評價時段各不相同ε這些方法各有所長,在元器件的生命周期內(nèi)應(yīng)有效地結(jié)合使用才能達(dá)到最佳的質(zhì)量效益比.
(1)與進(jìn)貨檢驗的關(guān)系。生產(chǎn)進(jìn)貨檢驗是在元器件上機前對其進(jìn)行的成品、半成品的檢驗,主要是采用箔i單的電測量、外觀觀察以及在低倍顯微鏡下的檢查等手段,以發(fā)現(xiàn)并剔除存在缺陷的元器件。這種檢驗通常是百分之百進(jìn)行的,且費用一般比較低,是一種非常有效的質(zhì)量控制方法,但它不能分析元器件內(nèi)部隱藏的缺陷,所以,必須與其他質(zhì)量控制技術(shù)配套使用,才能真正起到保障元器件質(zhì)量的作用。
(2)與篩選的關(guān)系。篩選就是對元器件進(jìn)行的老練篩選試驗,即對生產(chǎn)的元器件(一般要求10O%進(jìn)行)在經(jīng)過一定的環(huán)境老練試驗(如高溫老練試驗)后,測量其功能狀況,剔除失效產(chǎn)品,可見篩選的目的是剔除早期失效。篩選叉可分為一次篩選和二次篩選。一次篩選是在元器件出廠前由生產(chǎn)方進(jìn)行的,二次篩選是在元器件采購后或上機前由使用方進(jìn)行的。兩次篩選試驗的環(huán)境老練條件可相同,也可根據(jù)使用環(huán)情況進(jìn)行不同的有針對性的老練試驗,不管老練試驗是否相冂,二次篩選試驗在某些情況下還是有必要進(jìn)行的,因為產(chǎn)品的早期失效并不能在一次篩選后就能暴露出來,尤其在元器件使用前經(jīng)過了很長的存儲時間后,失效就I刂能會暴露出來了。老練試驗環(huán)境條件的選取是篩選試驗的難點,因為老練條件太苛刻,尢器件就會損壞或受到損傷,壽命降低,如條件不夠,就不能有效暴露元器件的早期篩選,失去了試驗的目的,老練環(huán)境條件的選取可參考有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和進(jìn)行相關(guān)試驗得出。
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