與質(zhì)量一致性檢驗(yàn)的關(guān)系。質(zhì)量一H26M21001DAR致性檢驗(yàn)即鑒定質(zhì)量一致性檢驗(yàn),是為了保證器件和批質(zhì)量符合有關(guān)采購(gòu)文件的要求,根據(jù)采購(gòu)文件和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行的一系列靜態(tài)試驗(yàn)、功能試驗(yàn)及穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)等,用于器件的初步鑒定和產(chǎn)品或工藝發(fā)生變化時(shí)的重新鑒定以保持合格資格的周期試驗(yàn)。由此可見(jiàn),質(zhì)量一致性檢驗(yàn)是為了檢驗(yàn)生產(chǎn)廠家有無(wú)生產(chǎn)該元器件的資格。因此,該檢驗(yàn)應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品門類特點(diǎn),設(shè)計(jì)完整的檢驗(yàn)方案,以盡量暴露元器件各個(gè)方面可能存在缺陷。質(zhì)量一致性檢驗(yàn)又可分為用來(lái)對(duì)各檢驗(yàn)批進(jìn)行的質(zhì)量一致性檢驗(yàn)和用于周期地進(jìn)行質(zhì)量一致性檢驗(yàn)。質(zhì)量一致性檢驗(yàn)只對(duì)經(jīng)過(guò)篩選的產(chǎn)品進(jìn)行抽樣檢驗(yàn),抽樣方案可根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。

    與失效分析的關(guān)系。失效分析是對(duì)所有檢驗(yàn)、篩選以及在電子系統(tǒng)上失效的元器件進(jìn)行的以檢測(cè)元器件(或半產(chǎn)品)不能正常工作(失去某種功能)原因?yàn)槟康牡囊幌盗性?/span>驗(yàn)。失效分析是在發(fā)現(xiàn)元器件失效后進(jìn)行的查找原因的過(guò)程,是以判別責(zé)任或改進(jìn)工藝為目的的。失效分析一般需要更多的產(chǎn)品信息,包括元器件功能參數(shù)、電路圖、失效背景等,一般還需要良品來(lái)對(duì)照,所以,分析的周期比較長(zhǎng),費(fèi)用比較高。