內部目檢的判據(jù)由相應產品的參照標準和詳細規(guī)范規(guī)定,若產品參照標準和詳細規(guī)范不一致,以產品詳細規(guī)范為準。由于元件類產品門類較多, D1216AJTA-4B-E且不同門類產品參照標準均不一致,本書不做詳細描述。器件類產品內部目檢主要參照GJB548和GJB128。

   GJB548主要針對微電子器件。其中方法⒛10中規(guī)定了集成電路(單芯片)內部目檢的判據(jù)要求;方法2013規(guī)定了破壞性物理分析(DPA)程序中內部目檢的判據(jù)要求;方法2014規(guī)定了不符合材料、設計和結構詳細要求的器件應視為失效;方法2017規(guī)定了混合集成電路內部目檢的判據(jù)要求;方法⒛32規(guī)定了無源元件內部目檢的判據(jù)要求。GJB128主要針對半導體分立器件。其中方法⒛”規(guī)定了晶體管內部目檢(封帽前)的判據(jù)要求;方法⒛73規(guī)定了芯片目檢(半導體二極管)的判據(jù)要求;方法⒛〃規(guī)定了內部目檢(半導體二極管)的判據(jù)要求;方法⒛75規(guī)定了開帽內部設計目檢的判據(jù)要求。