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25V直流電源電路電壓測量上達(dá)到微伏(μV)量級的精度

發(fā)布時(shí)間:2022/3/27 18:01:41 訪問次數(shù):945

±15V電源供主電源控制器的作用是在發(fā)動(dòng)機(jī)啟動(dòng)時(shí),當(dāng)轉(zhuǎn)速?zèng)]有達(dá)到電源工作的最低轉(zhuǎn)速時(shí)禁止GCCU投人工作,實(shí)際上是監(jiān)測交流副勵(lì)磁機(jī)輸出電壓的高低,其電路原理和前面恒速恒頻電源中的電壓檢測電路一樣。

25V直流電源的原理電路。這是一個(gè)利用PWM斬波方式控制的DC/DC變換器,副勵(lì)磁發(fā)電機(jī)輸出的變頻交流電經(jīng)過整流、濾波環(huán)節(jié)變?yōu)橹绷?經(jīng)過DC/r)c變換器形成穩(wěn)定的十25V直流電,用以給交流勵(lì)磁發(fā)電機(jī)的勵(lì)磁線圈供電。

3uA超低靜態(tài)電流、最低啟動(dòng)電壓0.65V低功耗同步升壓IC。其應(yīng)用優(yōu)勢如下:

滿足低電壓如單節(jié)兩節(jié)干電池的應(yīng)用,市場上大部分升壓芯片最低工作電壓2.5V-2.7V;

TP8312在單節(jié)鋰電可以輸出5V/500毫安,而一般電荷泵升壓輸出是5V/200毫安,其低EMI特性避免對FM收音及無線麥克風(fēng)的干擾;

TP8312待機(jī)電流3微安,適用用要求低功耗及長時(shí)間待機(jī)的應(yīng)用;

同步升壓架構(gòu),外圍元器件極少。可以采用10微分小電感,實(shí)現(xiàn)PCB面積;

測試精度的重要指標(biāo)包括測試電流、電壓、電容、時(shí)間量等參數(shù)的精度,先進(jìn)設(shè)備一般能夠在電流測量上能達(dá)到皮安(pA)量級的精度,在電壓測量上達(dá)到微伏(μV)量級的精度,在電容測量上能達(dá)到0.01皮法(pF)量級的精度,在時(shí)間量測量上能達(dá)到百皮秒(pS).測試機(jī)的延展性則主要體現(xiàn)在能否根據(jù)需要靈活地增加測試功能、通道和工位數(shù)。

面對這些挑戰(zhàn),測試設(shè)備開發(fā)商亟需穩(wěn)定的ATE解決方案,還期待有著高質(zhì)量的測試覆蓋率,能夠支持更多通道,在單位時(shí)間內(nèi)測試盡可能多的單元。

由于測試方案的優(yōu)劣直接影響到良率和測試成本。有資料顯示,芯片缺陷相關(guān)故障對成本的影響從IC級別的數(shù)十美元,到模塊級別的數(shù)百美元,乃至應(yīng)用端級別的數(shù)千美元。

±15V電源供主電源控制器的作用是在發(fā)動(dòng)機(jī)啟動(dòng)時(shí),當(dāng)轉(zhuǎn)速?zèng)]有達(dá)到電源工作的最低轉(zhuǎn)速時(shí)禁止GCCU投人工作,實(shí)際上是監(jiān)測交流副勵(lì)磁機(jī)輸出電壓的高低,其電路原理和前面恒速恒頻電源中的電壓檢測電路一樣。

25V直流電源的原理電路。這是一個(gè)利用PWM斬波方式控制的DC/DC變換器,副勵(lì)磁發(fā)電機(jī)輸出的變頻交流電經(jīng)過整流、濾波環(huán)節(jié)變?yōu)橹绷?經(jīng)過DC/r)c變換器形成穩(wěn)定的十25V直流電,用以給交流勵(lì)磁發(fā)電機(jī)的勵(lì)磁線圈供電。

3uA超低靜態(tài)電流、最低啟動(dòng)電壓0.65V低功耗同步升壓IC。其應(yīng)用優(yōu)勢如下:

滿足低電壓如單節(jié)兩節(jié)干電池的應(yīng)用,市場上大部分升壓芯片最低工作電壓2.5V-2.7V;

TP8312在單節(jié)鋰電可以輸出5V/500毫安,而一般電荷泵升壓輸出是5V/200毫安,其低EMI特性避免對FM收音及無線麥克風(fēng)的干擾;

TP8312待機(jī)電流3微安,適用用要求低功耗及長時(shí)間待機(jī)的應(yīng)用;

同步升壓架構(gòu),外圍元器件極少?梢圆捎10微分小電感,實(shí)現(xiàn)PCB面積;

測試精度的重要指標(biāo)包括測試電流、電壓、電容、時(shí)間量等參數(shù)的精度,先進(jìn)設(shè)備一般能夠在電流測量上能達(dá)到皮安(pA)量級的精度,在電壓測量上達(dá)到微伏(μV)量級的精度,在電容測量上能達(dá)到0.01皮法(pF)量級的精度,在時(shí)間量測量上能達(dá)到百皮秒(pS).測試機(jī)的延展性則主要體現(xiàn)在能否根據(jù)需要靈活地增加測試功能、通道和工位數(shù)。

面對這些挑戰(zhàn),測試設(shè)備開發(fā)商亟需穩(wěn)定的ATE解決方案,還期待有著高質(zhì)量的測試覆蓋率,能夠支持更多通道,在單位時(shí)間內(nèi)測試盡可能多的單元。

由于測試方案的優(yōu)劣直接影響到良率和測試成本。有資料顯示,芯片缺陷相關(guān)故障對成本的影響從IC級別的數(shù)十美元,到模塊級別的數(shù)百美元,乃至應(yīng)用端級別的數(shù)千美元。

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