壽命試驗
發(fā)布時間:2012/4/18 19:48:03 訪問次數(shù):753
進行長時間、大量樣品 SGM2017-1.8XN5/TR的壽命試驗的目的,在于估計電子元器件在正常的(即為額定的或實際使用的)試驗條件下的可靠壽命特征,暴露非早期性失效模式及其失效機理。
不同的電子元器件,其壽命分布規(guī)律是不同的,有些產品的壽命服從指數(shù)分布,有些服從威布爾分布,有些服從對數(shù)正態(tài)分布。由于指數(shù)分布是產品可靠性特征量表達式最簡單的一種,因此,在討論壽命試驗時,常常只重點討論壽命服從指數(shù)分布的情況。另外,如果任何設計合理,工藝成熟,材料質量得到保證,生產過程處于受控的產品都具有較高的可靠性,這類產品經過合理的工藝篩選剔除早期失效產品后,便進入偶然失效期。在這個期間內,產品的壽命分布接近指數(shù)分布,即失效率A(t)接近于常數(shù)。
由于進行壽命試驗需要很長的時間或較多樣品,對壽命比較長的電子元器件就不太合適,解決這個問題的方法就是進行加速壽命試驗,并通過數(shù)理統(tǒng)計和外推方法獲得產品的失效分布、可靠度、平均壽命及特性參數(shù)隨時間變化等有效的可靠性壽命特征數(shù)據(jù)。在這個基礎上,再對在特定條件下的產品可靠性進行預瀏,以此評價產品是否達到了可靠性設計時的預定要求。
進行長時間、大量樣品 SGM2017-1.8XN5/TR的壽命試驗的目的,在于估計電子元器件在正常的(即為額定的或實際使用的)試驗條件下的可靠壽命特征,暴露非早期性失效模式及其失效機理。
不同的電子元器件,其壽命分布規(guī)律是不同的,有些產品的壽命服從指數(shù)分布,有些服從威布爾分布,有些服從對數(shù)正態(tài)分布。由于指數(shù)分布是產品可靠性特征量表達式最簡單的一種,因此,在討論壽命試驗時,常常只重點討論壽命服從指數(shù)分布的情況。另外,如果任何設計合理,工藝成熟,材料質量得到保證,生產過程處于受控的產品都具有較高的可靠性,這類產品經過合理的工藝篩選剔除早期失效產品后,便進入偶然失效期。在這個期間內,產品的壽命分布接近指數(shù)分布,即失效率A(t)接近于常數(shù)。
由于進行壽命試驗需要很長的時間或較多樣品,對壽命比較長的電子元器件就不太合適,解決這個問題的方法就是進行加速壽命試驗,并通過數(shù)理統(tǒng)計和外推方法獲得產品的失效分布、可靠度、平均壽命及特性參數(shù)隨時間變化等有效的可靠性壽命特征數(shù)據(jù)。在這個基礎上,再對在特定條件下的產品可靠性進行預瀏,以此評價產品是否達到了可靠性設計時的預定要求。