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單片集成電路可靠性設計的基本要求

發(fā)布時間:2012/4/21 19:42:17 訪問次數(shù):518

    集成電路的設計包括功能設計AR1319和可靠性設計。功能設計是為達到規(guī)定的功能而進行的設計;而可靠性設計是為保持功能以及防靜電、散熱、防輻射、抗惡劣環(huán)境等方面而進行的設計。隨著集成咆路進入亞微米、深亞微米階段,用傳統(tǒng)的工藝檢測、老化篩選幾乎不可能剔除潛在的失效,必須由試驗保證可靠性( Tested in Reli-ability,TIR)轉(zhuǎn)向設計保證可靠性(Designed in Reliability,DIR)。目前已出現(xiàn)統(tǒng)計過程控制(Statistical Process Control,SPC)以及計算機輔助可靠性評價技術(shù)(Computer Aided Reliability,CAR)。隨著集成電路性能、可靠性的不斷提高,對集成電路的設計要求越來越高,必須在產(chǎn)品的設計階段就考慮集成電路的可靠性,才能使集成電路步入高層次保證階段。所以,可靠性是集成電路設計中至關(guān)重要的組成部分,必須貫穿于產(chǎn)品的各個方面和全過程。
    開展集成電路可靠性設計的基本要求(包括可靠性設計的依據(jù)、基本原則、設計程序、設計指標的論證)和基本條件(包括人員素質(zhì)要求、可靠性信息的收集與應用要求、失效分析工作要求)。

    集成電路的設計包括功能設計AR1319和可靠性設計。功能設計是為達到規(guī)定的功能而進行的設計;而可靠性設計是為保持功能以及防靜電、散熱、防輻射、抗惡劣環(huán)境等方面而進行的設計。隨著集成咆路進入亞微米、深亞微米階段,用傳統(tǒng)的工藝檢測、老化篩選幾乎不可能剔除潛在的失效,必須由試驗保證可靠性( Tested in Reli-ability,TIR)轉(zhuǎn)向設計保證可靠性(Designed in Reliability,DIR)。目前已出現(xiàn)統(tǒng)計過程控制(Statistical Process Control,SPC)以及計算機輔助可靠性評價技術(shù)(Computer Aided Reliability,CAR)。隨著集成電路性能、可靠性的不斷提高,對集成電路的設計要求越來越高,必須在產(chǎn)品的設計階段就考慮集成電路的可靠性,才能使集成電路步入高層次保證階段。所以,可靠性是集成電路設計中至關(guān)重要的組成部分,必須貫穿于產(chǎn)品的各個方面和全過程。
    開展集成電路可靠性設計的基本要求(包括可靠性設計的依據(jù)、基本原則、設計程序、設計指標的論證)和基本條件(包括人員素質(zhì)要求、可靠性信息的收集與應用要求、失效分析工作要求)。

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