混合集成電路的主要失效模式
發(fā)布時間:2012/4/25 19:18:18 訪問次數(shù):863
混合集成電路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分為以下幾種：
①有源器件。
②引線鍵合。
③組裝。
④基片。
⑤外殼及封裝。
⑥沾污及多余物。
圖3.4是美國羅姆航空發(fā)展中心收集的混合電路失效模式的分布數(shù)據(jù)，表明有源器件、引線鍵合和沾污是造成失效的主要原因。圖3.5是某一混合集成電路廠家的統(tǒng)計數(shù)據(jù)（僅從設(shè)計、材料、管理、使用四方面給出了的失效統(tǒng)計數(shù)據(jù)），可供對比分析。
混合集成電路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分為以下幾種：
①有源器件。
②引線鍵合。
③組裝。
④基片。
⑤外殼及封裝。
⑥沾污及多余物。
圖3.4是美國羅姆航空發(fā)展中心收集的混合電路失效模式的分布數(shù)據(jù)，表明有源器件、引線鍵合和沾污是造成失效的主要原因。圖3.5是某一混合集成電路廠家的統(tǒng)計數(shù)據(jù)（僅從設(shè)計、材料、管理、使用四方面給出了的失效統(tǒng)計數(shù)據(jù)），可供對比分析。
上一篇：概述
上一篇：電子元器件常規(guī)失效
相關(guān)技術(shù)資料- 4-25混合集成電路的主要失效模式
熱門點擊
- TDMA技術(shù)
- 連接器的種類
- 安全網(wǎng)絡(luò)加密協(xié)議SNEP
- 外圍電路設(shè)計
- gcNMOS
- 多余物產(chǎn)生的原因分析及其控制
- 訪問控制技術(shù)
- 網(wǎng)絡(luò)安全性
- 高可靠性EEPROM單元設(shè)計
- 加速壽命試驗
推薦技術(shù)資料
- AMOLED顯示驅(qū)動芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計
- GB300 超級芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
