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電容器的失效模式和失效機理

發(fā)布時間:2012/5/3 19:26:01 訪問次數(shù):863

    電容器常見的失效模式有擊穿、開路、電SAF82526N參數(shù)退化(包括電客量變化、損耗角正切值增大、直流漏電流值增大等)、引線腐蝕(斷裂)等。為能幫助讀者了解產(chǎn)生電容器各種失效模式的原因,進行針對性的可靠性設(shè)計,在此對擊穿、開路、電參數(shù)退化等失效模式的失效機理進行分析。
    (1)擊穿的主要失效機理
    ①介質(zhì)中有疵點或缺陷,存在雜質(zhì)或?qū)щ娏W印?BR>    ②電介質(zhì)的老化。
    ③離子遷移。
    ④電介質(zhì)在制造過程中的機械損傷。
    ⑤在高溫或低氣壓環(huán)境下極間邊緣飛弧。
    ⑥在機械應(yīng)力的作用下電介質(zhì)瞬間短路。
    (2)開路的主要失效機理
    ①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
    ②工作電解質(zhì)的干涸。
    ③工作電解質(zhì)的凍結(jié)。
    ④引出線與電極接觸不良。
    ⑤在機械應(yīng)力作用下,工作電解質(zhì)和電介質(zhì)之間的瞬時開路。
    (3)電參數(shù)退化的主要失效機理
    ①潮濕的影響。
    ②離子遷移。
    ③表面污染。
    ④自愈效應(yīng)。
    ⑤電介質(zhì)內(nèi)部缺陷及介質(zhì)老化或熱分解。
    ⑥工作電解質(zhì)的泄漏和變化。
    ⑦電極腐蝕。
    ⑧雜質(zhì)和有害離子的影響。
    ⑨引線和電極接觸電阻增大。
    電容器常見的失效模式有擊穿、開路、電SAF82526N參數(shù)退化(包括電客量變化、損耗角正切值增大、直流漏電流值增大等)、引線腐蝕(斷裂)等。為能幫助讀者了解產(chǎn)生電容器各種失效模式的原因,進行針對性的可靠性設(shè)計,在此對擊穿、開路、電參數(shù)退化等失效模式的失效機理進行分析。
    (1)擊穿的主要失效機理
    ①介質(zhì)中有疵點或缺陷,存在雜質(zhì)或?qū)щ娏W印?BR>    ②電介質(zhì)的老化。
    ③離子遷移。
    ④電介質(zhì)在制造過程中的機械損傷。
    ⑤在高溫或低氣壓環(huán)境下極間邊緣飛弧。
    ⑥在機械應(yīng)力的作用下電介質(zhì)瞬間短路。
    (2)開路的主要失效機理
    ①因擊穿引起電極和引出線相絕緣。
    ②工作電解質(zhì)的干涸。
    ③工作電解質(zhì)的凍結(jié)。
    ④引出線與電極接觸不良。
    ⑤在機械應(yīng)力作用下,工作電解質(zhì)和電介質(zhì)之間的瞬時開路。
    (3)電參數(shù)退化的主要失效機理
    ①潮濕的影響。
    ②離子遷移。
    ③表面污染。
    ④自愈效應(yīng)。
    ⑤電介質(zhì)內(nèi)部缺陷及介質(zhì)老化或熱分解。
    ⑥工作電解質(zhì)的泄漏和變化。
    ⑦電極腐蝕。
    ⑧雜質(zhì)和有害離子的影響。
    ⑨引線和電極接觸電阻增大。
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