電學(xué)特性控制
發(fā)布時(shí)間:2012/5/7 19:35:39 訪問(wèn)次數(shù):636
晶體的電學(xué)特性是影響聲表面10039851-101LF波器件可靠性的重要因素，其中電阻率和介電常數(shù)是主要的控制內(nèi)容，一般要求其量值要在設(shè)計(jì)值的容差范圍內(nèi)，且要求均勻一致。晶體材料電學(xué)特性控制不適當(dāng)，在聲表面波器件處于瞬態(tài)工作狀態(tài)時(shí)由于浪涌沖擊或是環(huán)境溫度起伏產(chǎn)生聲表面波器件電參數(shù)超差失效或燒毀失效。
金屬化材料控制要求
金屬化材料系統(tǒng)失效是聲表面波器件失效機(jī)理之一。金屬化系統(tǒng)引起的主要失效模式是：
①由電遷移引起的開(kāi)路、短路失效。
②由金屬化材料與聲表面波器件本體材料互擴(kuò)散引起的歐姆接觸退化失效。
③金屬化材料進(jìn)入聲表面波器件本體造成縱向結(jié)構(gòu)異變引起失效。
④由金屬化系繞化學(xué)變化引起的開(kāi)路失效。
金屬化材料主要控制純度、組份和制備方法。在合金材料的組份控制中特別要注意靶材料在使用過(guò)程中組份的變化。對(duì)這種易變材料應(yīng)當(dāng)采取定周期組份分析控制。
內(nèi)引線材料控制要求
聲表面波器件在封裝的殼體內(nèi)有內(nèi)引線。內(nèi)引線本身質(zhì)量對(duì)其裝配可靠性的影響很大。與此有關(guān)的失效機(jī)理是接觸電阻劣化、鍵合強(qiáng)度退化，特別是經(jīng)過(guò)熱老化后的鍵合強(qiáng)度退化。主要控制內(nèi)容有：
①組份和晶粒結(jié)構(gòu)。
②幾何尺寸的均勻性。
③抗拉力和延展性。
組份用化學(xué)分析和質(zhì)譜儀進(jìn)行定量控制。晶粒結(jié)構(gòu)用X光衍射儀、金相顯微鏡或電子顯微鏡檢測(cè)。幾何尺寸用光學(xué)顯微鏡測(cè)量�？估脱诱剐杂美擞�(jì)檢測(cè)。上述檢測(cè)均應(yīng)在經(jīng)歷溫度處理后進(jìn)行，其處理?xiàng)l件應(yīng)當(dāng)與聲表面波器件內(nèi)引線裝配后所需經(jīng)歷的溫度過(guò)程相同。
金屬化材料控制要求
金屬化材料系統(tǒng)失效是聲表面波器件失效機(jī)理之一。金屬化系統(tǒng)引起的主要失效模式是：
①由電遷移引起的開(kāi)路、短路失效。
②由金屬化材料與聲表面波器件本體材料互擴(kuò)散引起的歐姆接觸退化失效。
③金屬化材料進(jìn)入聲表面波器件本體造成縱向結(jié)構(gòu)異變引起失效。
④由金屬化系繞化學(xué)變化引起的開(kāi)路失效。
金屬化材料主要控制純度、組份和制備方法。在合金材料的組份控制中特別要注意靶材料在使用過(guò)程中組份的變化。對(duì)這種易變材料應(yīng)當(dāng)采取定周期組份分析控制。
內(nèi)引線材料控制要求
聲表面波器件在封裝的殼體內(nèi)有內(nèi)引線。內(nèi)引線本身質(zhì)量對(duì)其裝配可靠性的影響很大。與此有關(guān)的失效機(jī)理是接觸電阻劣化、鍵合強(qiáng)度退化，特別是經(jīng)過(guò)熱老化后的鍵合強(qiáng)度退化。主要控制內(nèi)容有：
①組份和晶粒結(jié)構(gòu)。
②幾何尺寸的均勻性。
③抗拉力和延展性。
組份用化學(xué)分析和質(zhì)譜儀進(jìn)行定量控制。晶粒結(jié)構(gòu)用X光衍射儀、金相顯微鏡或電子顯微鏡檢測(cè)。幾何尺寸用光學(xué)顯微鏡測(cè)量�？估脱诱剐杂美擞�(jì)檢測(cè)。上述檢測(cè)均應(yīng)在經(jīng)歷溫度處理后進(jìn)行，其處理?xiàng)l件應(yīng)當(dāng)與聲表面波器件內(nèi)引線裝配后所需經(jīng)歷的溫度過(guò)程相同。
晶體的電學(xué)特性是影響聲表面10039851-101LF波器件可靠性的重要因素，其中電阻率和介電常數(shù)是主要的控制內(nèi)容，一般要求其量值要在設(shè)計(jì)值的容差范圍內(nèi)，且要求均勻一致。晶體材料電學(xué)特性控制不適當(dāng)，在聲表面波器件處于瞬態(tài)工作狀態(tài)時(shí)由于浪涌沖擊或是環(huán)境溫度起伏產(chǎn)生聲表面波器件電參數(shù)超差失效或燒毀失效。
金屬化材料控制要求
金屬化材料系統(tǒng)失效是聲表面波器件失效機(jī)理之一。金屬化系統(tǒng)引起的主要失效模式是：
①由電遷移引起的開(kāi)路、短路失效。
②由金屬化材料與聲表面波器件本體材料互擴(kuò)散引起的歐姆接觸退化失效。
③金屬化材料進(jìn)入聲表面波器件本體造成縱向結(jié)構(gòu)異變引起失效。
④由金屬化系繞化學(xué)變化引起的開(kāi)路失效。
金屬化材料主要控制純度、組份和制備方法。在合金材料的組份控制中特別要注意靶材料在使用過(guò)程中組份的變化。對(duì)這種易變材料應(yīng)當(dāng)采取定周期組份分析控制。
內(nèi)引線材料控制要求
聲表面波器件在封裝的殼體內(nèi)有內(nèi)引線。內(nèi)引線本身質(zhì)量對(duì)其裝配可靠性的影響很大。與此有關(guān)的失效機(jī)理是接觸電阻劣化、鍵合強(qiáng)度退化，特別是經(jīng)過(guò)熱老化后的鍵合強(qiáng)度退化。主要控制內(nèi)容有：
①組份和晶粒結(jié)構(gòu)。
②幾何尺寸的均勻性。
③抗拉力和延展性。
組份用化學(xué)分析和質(zhì)譜儀進(jìn)行定量控制。晶粒結(jié)構(gòu)用X光衍射儀、金相顯微鏡或電子顯微鏡檢測(cè)。幾何尺寸用光學(xué)顯微鏡測(cè)量�？估脱诱剐杂美擞�(jì)檢測(cè)。上述檢測(cè)均應(yīng)在經(jīng)歷溫度處理后進(jìn)行，其處理?xiàng)l件應(yīng)當(dāng)與聲表面波器件內(nèi)引線裝配后所需經(jīng)歷的溫度過(guò)程相同。
金屬化材料控制要求
金屬化材料系統(tǒng)失效是聲表面波器件失效機(jī)理之一。金屬化系統(tǒng)引起的主要失效模式是：
①由電遷移引起的開(kāi)路、短路失效。
②由金屬化材料與聲表面波器件本體材料互擴(kuò)散引起的歐姆接觸退化失效。
③金屬化材料進(jìn)入聲表面波器件本體造成縱向結(jié)構(gòu)異變引起失效。
④由金屬化系繞化學(xué)變化引起的開(kāi)路失效。
金屬化材料主要控制純度、組份和制備方法。在合金材料的組份控制中特別要注意靶材料在使用過(guò)程中組份的變化。對(duì)這種易變材料應(yīng)當(dāng)采取定周期組份分析控制。
內(nèi)引線材料控制要求
聲表面波器件在封裝的殼體內(nèi)有內(nèi)引線。內(nèi)引線本身質(zhì)量對(duì)其裝配可靠性的影響很大。與此有關(guān)的失效機(jī)理是接觸電阻劣化、鍵合強(qiáng)度退化，特別是經(jīng)過(guò)熱老化后的鍵合強(qiáng)度退化。主要控制內(nèi)容有：
①組份和晶粒結(jié)構(gòu)。
②幾何尺寸的均勻性。
③抗拉力和延展性。
組份用化學(xué)分析和質(zhì)譜儀進(jìn)行定量控制。晶粒結(jié)構(gòu)用X光衍射儀、金相顯微鏡或電子顯微鏡檢測(cè)。幾何尺寸用光學(xué)顯微鏡測(cè)量�？估脱诱剐杂美擞�(jì)檢測(cè)。上述檢測(cè)均應(yīng)在經(jīng)歷溫度處理后進(jìn)行，其處理?xiàng)l件應(yīng)當(dāng)與聲表面波器件內(nèi)引線裝配后所需經(jīng)歷的溫度過(guò)程相同。
相關(guān)技術(shù)資料- 5-7電學(xué)特性控制
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