篩選方法的確定，CS51414EDR8G對(duì)于不存在缺陷而性能優(yōu)良的產(chǎn)品應(yīng)該是一種非破壞性試驗(yàn)；對(duì)于有潛在隱患的產(chǎn)品則起到加速暴露、篩選淘汰的目的。

   篩選條件的適應(yīng)性

   篩選條件不是固定不變的，隨著產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、材料、工藝的不斷改進(jìn)以及失效模式的變化而不同，不能隨便硬性地規(guī)定或搬用其他廠家的方法。

   通過(guò)長(zhǎng)期可靠性試驗(yàn)與可靠性篩選的摸底試驗(yàn)資料分析，可以找到各種電子元器件不同類型與最佳篩選參數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系；找出產(chǎn)品的不同類型與失效機(jī)理的對(duì)應(yīng)關(guān)系；失效機(jī)理或失效形式與篩選項(xiàng)目的對(duì)應(yīng)關(guān)系等。例如，電阻類型與最佳篩選參數(shù)的關(guān)系如表3. 12所示。

   表3. 12  電阻類型與最佳篩選參數(shù)的關(guān)系