隔離工藝
發(fā)布時間:2017/5/30 12:07:59 訪問次數(shù):623
在CMOS電路的一個反相器中,p溝和n溝MOSFET的源漏,都是由同種導電類型的半導體材料構成的,并和襯底(阱)的導電類型不同。 PAM2305DABADJ因此,MOsEET本身就是被pll結所隔離的,即自隔離。只要維持源/襯底pn結和漏/襯底pn結的反偏.MC)SFET便能維持自隔離。而在pMOs和nMOs元件之間和反相器之間的隔離通常是采用介質(zhì)隔離。CMOS電路的介質(zhì)隔離工藝主要是局部場氧化工藝和淺槽隔離I藝。
局部場氧化工藝
局部場氧化工藝(LOCd Oxlda0on引lcon,I'OCOS)是通過厚場氧化層絕緣介質(zhì),以及離子注人提高場氧化層下硅表面區(qū)域的雜質(zhì)濃度實現(xiàn)電隔離的。(℃C)S工藝剖視圖如圖1211所示。
在CMOS電路的一個反相器中,p溝和n溝MOSFET的源漏,都是由同種導電類型的半導體材料構成的,并和襯底(阱)的導電類型不同。 PAM2305DABADJ因此,MOsEET本身就是被pll結所隔離的,即自隔離。只要維持源/襯底pn結和漏/襯底pn結的反偏.MC)SFET便能維持自隔離。而在pMOs和nMOs元件之間和反相器之間的隔離通常是采用介質(zhì)隔離。CMOS電路的介質(zhì)隔離工藝主要是局部場氧化工藝和淺槽隔離I藝。
局部場氧化工藝
局部場氧化工藝(LOCd Oxlda0on引lcon,I'OCOS)是通過厚場氧化層絕緣介質(zhì),以及離子注人提高場氧化層下硅表面區(qū)域的雜質(zhì)濃度實現(xiàn)電隔離的。(℃C)S工藝剖視圖如圖1211所示。
上一篇:雙阱CMOS反相器的剖視
上一篇:雙阱工藝流程
熱門點擊
- 比探測率
- 光刻掩模板的制造
- 發(fā)射區(qū)推進效應
- 砷化鎵也不會取代硅成為主流的半導體材料
- 涂膠
- 幾種常用雜質(zhì)在硅中的核阻止本領與能量關系
- 干法刻蝕
- 電阻真空鍍鋁
- 埋層的制備
- 光刻是微電子工藝中最重要的單項工藝之一
推薦技術資料
- 驅(qū)動板的原理分析
- 先來看看原理圖。圖8所示為底板及其驅(qū)動示意圖,F(xiàn)M08... [詳細]