差模共;旌系膫鲗(dǎo)性抗擾度測(cè)試實(shí)質(zhì)
發(fā)布時(shí)間:2017/6/6 21:12:07 訪問次數(shù):829
差模共;旌系膫鲗(dǎo)性抗擾度測(cè)試主要是指,在傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試中,既要進(jìn)L4987CPT120行差模測(cè)試又要進(jìn)行共模測(cè)試,或在差模過程中既有共模的干擾直接注入到產(chǎn)品被測(cè)端口上,又有差模的干擾直接注入到產(chǎn)品被測(cè)端口上的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試。
汽車電子相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)E07637-2中規(guī)定的P~sa、P3b脈沖的抗擾度測(cè)試典型的是差模共模混合的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試,不管是產(chǎn)品是否直接安裝的車架上,干擾都會(huì)通過接地線或EUT、電纜與參考地之間的寄生電容回到參考接地板上。因此,種測(cè)試都是兩種干擾直接
注人到被測(cè)產(chǎn)品的端口上。⒙o9b~s7-2標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的對(duì)于那些直接安裝的車架上的產(chǎn)品(外殼接參考地產(chǎn)品)所進(jìn)行的P1、”a、”b、M、P~sa、P5b脈的抗擾度測(cè)試也是一種差模共模混合的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試。因?yàn)?雖然干擾源是低頻的,但是由于被測(cè)產(chǎn)品與參考接地板之間的接地線存在,必然導(dǎo)致干擾電流流向參考接地板(測(cè)試中十?dāng)_源的負(fù)端與參考接地板互連)。
另外,對(duì)于IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的浪涌測(cè)試來說,由于存在線對(duì)線測(cè)試與線對(duì)地測(cè)試的區(qū)分,總體來講它是一種差模共;旌系膫鲗(dǎo)性抗擾度測(cè)試。浪涌測(cè)試是一項(xiàng)低頻EMC測(cè)試,這由微秒級(jí)的浪涌測(cè)試波形上升時(shí)問決定,從頻域上看,它的大部分能量分布在數(shù)十千赫茲,然而這是一項(xiàng)大能量的抗擾度測(cè)試,對(duì)于被測(cè)設(shè)各來
說,其端口被注人浪涌干擾信號(hào)時(shí),不但會(huì)發(fā)生系統(tǒng)T作的誤動(dòng)作,還很有可能出現(xiàn)器件損壞。浪涌測(cè)試還對(duì)共模(線對(duì)地)和差模測(cè)試做了明確的區(qū)分,干擾的實(shí)質(zhì)就是將浪涌信號(hào)疊加于被測(cè)產(chǎn)品中的正常△作信號(hào)上。由于頻率較低,該項(xiàng)日的測(cè)試問題分析也相對(duì)比較容易,不需要考慮太多的寄生參數(shù),如寄生電容。如果用軟件仿真,也可以獲得與實(shí)際較接近的結(jié)果。
差模共;旌系膫鲗(dǎo)性抗擾度測(cè)試主要是指,在傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試中,既要進(jìn)L4987CPT120行差模測(cè)試又要進(jìn)行共模測(cè)試,或在差模過程中既有共模的干擾直接注入到產(chǎn)品被測(cè)端口上,又有差模的干擾直接注入到產(chǎn)品被測(cè)端口上的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試。
汽車電子相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)E07637-2中規(guī)定的P~sa、P3b脈沖的抗擾度測(cè)試典型的是差模共模混合的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試,不管是產(chǎn)品是否直接安裝的車架上,干擾都會(huì)通過接地線或EUT、電纜與參考地之間的寄生電容回到參考接地板上。因此,種測(cè)試都是兩種干擾直接
注人到被測(cè)產(chǎn)品的端口上。⒙o9b~s7-2標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的對(duì)于那些直接安裝的車架上的產(chǎn)品(外殼接參考地產(chǎn)品)所進(jìn)行的P1、”a、”b、M、P~sa、P5b脈的抗擾度測(cè)試也是一種差模共;旌系膫鲗(dǎo)性抗擾度測(cè)試。因?yàn)?雖然干擾源是低頻的,但是由于被測(cè)產(chǎn)品與參考接地板之間的接地線存在,必然導(dǎo)致干擾電流流向參考接地板(測(cè)試中十?dāng)_源的負(fù)端與參考接地板互連)。
另外,對(duì)于IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的浪涌測(cè)試來說,由于存在線對(duì)線測(cè)試與線對(duì)地測(cè)試的區(qū)分,總體來講它是一種差模共模混合的傳導(dǎo)性抗擾度測(cè)試。浪涌測(cè)試是一項(xiàng)低頻EMC測(cè)試,這由微秒級(jí)的浪涌測(cè)試波形上升時(shí)問決定,從頻域上看,它的大部分能量分布在數(shù)十千赫茲,然而這是一項(xiàng)大能量的抗擾度測(cè)試,對(duì)于被測(cè)設(shè)各來
說,其端口被注人浪涌干擾信號(hào)時(shí),不但會(huì)發(fā)生系統(tǒng)T作的誤動(dòng)作,還很有可能出現(xiàn)器件損壞。浪涌測(cè)試還對(duì)共模(線對(duì)地)和差模測(cè)試做了明確的區(qū)分,干擾的實(shí)質(zhì)就是將浪涌信號(hào)疊加于被測(cè)產(chǎn)品中的正!髯餍盘(hào)上。由于頻率較低,該項(xiàng)日的測(cè)試問題分析也相對(duì)比較容易,不需要考慮太多的寄生參數(shù),如寄生電容。如果用軟件仿真,也可以獲得與實(shí)際較接近的結(jié)果。
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