分析到此可以看出,數(shù)字電路中的噪聲電壓并不是直接影響模擬電路的正常工作的。當TAS5352ADDVR數(shù)字電路中的噪聲電壓沒有轉(zhuǎn)化成電流,或沒有數(shù)字電路中的噪聲電壓轉(zhuǎn)化成流過模擬電路區(qū)域的電流(此電流為共模電流)時,這種通過“地”的數(shù)模信號相互干擾現(xiàn)象就不會發(fā)生。只有當數(shù)字電路中的噪聲電壓轉(zhuǎn)化成電流時,并且該電流流過模擬電路區(qū)域(模擬電路的工作地)才會轉(zhuǎn)化成另一種直接影響模擬電路正常工作的是“電壓”�？梢�,直接影響模擬電路正常工作的是“電壓”而不是“電流”,但是這個“電壓”并不是在數(shù)字電路工作地上的地噪聲或共模電壓,只是這個地噪聲共模電壓往模擬電路工作地方向產(chǎn)生了一個共模電流,當這個共模電流流過模擬工作電路地時,就會在模擬工作電路地上產(chǎn)生另一個地噪聲電壓(模擬電路工作地上的地噪聲電壓),這個電壓才是直接影響模擬電路正常工作的電壓。

   以上假設都是幾種極端的情況,實際電路中幾乎不會發(fā)生這些情況,但是從這些假設的分析可以看出,數(shù)字電路的噪聲影響模擬電路程度不但與模擬電路的工作地、參考地或金屬外殼之間的阻抗有關,還與模擬電路工作地阻抗有關。為了減少數(shù)字電路的地噪聲對低電平(mⅤ以下)的模擬電路正常工作的影響,從產(chǎn)品設計的角度出發(fā),應盡可能加大模擬電路部分(或模擬電路工作地)與參考接地板或金屬外殼之間的阻抗,并減小模擬地的阻抗(通過設計完整地平面可以獲得3.7mΩ(100MHz)的阻抗)。但是在實際產(chǎn)品中,還會出現(xiàn)如下情況:

   有些產(chǎn)品模擬電路部分(或模擬電路工作地)與參考接地板或金屬外殼之間的阻抗注定就是很低的,即如圖6。sZI所示的阻抗zA較小,這通常表現(xiàn)為以下兩種設計J清況。第一種,模擬電路區(qū)域的遠端存在模擬電路工作地與參考接地板或金屬外殼互連(直接連接或通過電容連接),如圖6.85所示。