探頭靠近晶振時的噪聲峰-峰值
發(fā)布時間:2017/6/28 19:25:00 訪問次數(shù):795
【處理措施】
將晶振內(nèi)移,使其離PCB地平面邊緣至少有1cm以上的距離,并在PCB表層離晶振1cm的范圍內(nèi)敷銅,同時把表層的銅通過過孔與PCB地平面相連。 TDA2HVADQABCRQ1經(jīng)過修改后的測試結(jié)果頻譜圖如圖6.105所示,從圖6.105中可以看出,輻射發(fā)射有明顯的改善。
要布置在PCB邊緣,那么可以在印制線邊上再布一根I作地(GND)線,并通過過孔將此工作地(GND)線與工作地(GND)平面相連。
(3)消除一種誤解:不要認(rèn)為輻射是晶振直接造成的,事實(shí)上晶振個體較小,它直接影響的是近場輻射(表現(xiàn)為晶振與其他導(dǎo)體(如參考接地板)之間形成的寄生電容),造成遠(yuǎn)場輻射的直接因素是電纜或產(chǎn)品中最大尺寸與輻射頻率波長可以比擬的導(dǎo)體。
案例71:強(qiáng)輻射器中下方為何要布置局部地平面
【現(xiàn)象描述】
某家電產(chǎn)品采用塑料外殼,輻射發(fā)射超標(biāo),在問題定位過程中,用示波器及探頭做成簡易的近場探頭對該產(chǎn)品進(jìn)行問題定位,示波器的具體型號及定位測試示意圖如下: 測試儀器:示波器TDS784D(1GHz),探頭P6245 (1.5GHz)。
測試方式:把探頭和探頭的地線相連,形成一個環(huán)狀,猶如環(huán)狀接收天線,探頭與地線構(gòu)成的接收環(huán)路如圖6.106所示,將此環(huán)靠近,尋找最大輻射點(diǎn)。在測試中發(fā)現(xiàn),當(dāng)探頭靠近該產(chǎn)品中PCB上的晶探頭靠近晶振時的噪聲峰-峰值如圖6.107所示,而且這個幅度偏大。
因此,初步確定該時鐘線或晶振在PCB中的設(shè)計(jì)有不合理的地方。進(jìn)一步觀察發(fā)現(xiàn),時鐘線較長,布在T0P層和BOmoM層,而且該晶振的布局也沒有做特殊處理。
【處理措施】
將晶振內(nèi)移,使其離PCB地平面邊緣至少有1cm以上的距離,并在PCB表層離晶振1cm的范圍內(nèi)敷銅,同時把表層的銅通過過孔與PCB地平面相連。 TDA2HVADQABCRQ1經(jīng)過修改后的測試結(jié)果頻譜圖如圖6.105所示,從圖6.105中可以看出,輻射發(fā)射有明顯的改善。
要布置在PCB邊緣,那么可以在印制線邊上再布一根I作地(GND)線,并通過過孔將此工作地(GND)線與工作地(GND)平面相連。
(3)消除一種誤解:不要認(rèn)為輻射是晶振直接造成的,事實(shí)上晶振個體較小,它直接影響的是近場輻射(表現(xiàn)為晶振與其他導(dǎo)體(如參考接地板)之間形成的寄生電容),造成遠(yuǎn)場輻射的直接因素是電纜或產(chǎn)品中最大尺寸與輻射頻率波長可以比擬的導(dǎo)體。
案例71:強(qiáng)輻射器中下方為何要布置局部地平面
【現(xiàn)象描述】
某家電產(chǎn)品采用塑料外殼,輻射發(fā)射超標(biāo),在問題定位過程中,用示波器及探頭做成簡易的近場探頭對該產(chǎn)品進(jìn)行問題定位,示波器的具體型號及定位測試示意圖如下: 測試儀器:示波器TDS784D(1GHz),探頭P6245 (1.5GHz)。
測試方式:把探頭和探頭的地線相連,形成一個環(huán)狀,猶如環(huán)狀接收天線,探頭與地線構(gòu)成的接收環(huán)路如圖6.106所示,將此環(huán)靠近,尋找最大輻射點(diǎn)。在測試中發(fā)現(xiàn),當(dāng)探頭靠近該產(chǎn)品中PCB上的晶探頭靠近晶振時的噪聲峰-峰值如圖6.107所示,而且這個幅度偏大。
因此,初步確定該時鐘線或晶振在PCB中的設(shè)計(jì)有不合理的地方。進(jìn)一步觀察發(fā)現(xiàn),時鐘線較長,布在T0P層和BOmoM層,而且該晶振的布局也沒有做特殊處理。
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