極紫外光刻
發(fā)布時(shí)間:2017/11/1 19:41:17 訪問(wèn)次數(shù):741
在所用過(guò)的光刻的波長(zhǎng)中,13.5nm可能不太容易被理解。從最初的g線、i線到當(dāng)今的365nm、248nm和193nm,多少還是讓人感到,我們是在做“刻”。由于193nm浸沒(méi)式的O27.0-VX3MH-LF成功,157nm的項(xiàng)日已經(jīng)終止。從157nm往下走已經(jīng)沒(méi)有什么好的光源,于是人們就找到了13.5nm的極紫外光。光刻機(jī)所用的光譜圖如圖7,109所示。
極紫外(EUV)光刻機(jī)由以下幾個(gè)部分組成:
光源:高電壓激勵(lì)的等離子體放電燈(r,lschargc Produced Plasma,DPP)或者激光激勵(lì)(I'aser Produccd Plasma,I'PP)的等離子體放電燈和反射式光收集鏡片組。
光刻機(jī)主體:包括反射鏡組(遇常為6片0.25NA)、主真空腔體(真空度<10:)、磁懸浮硅片平臺(tái)、掩膜版平臺(tái)、平臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置、硅片輸送裝置等。在~9007年,阿斯麥公司推出了埃爾法驗(yàn)證機(jī)(Alh Demo T。o1.AI)T)。如圖7.110所示「~T。其基本性能指標(biāo)為
數(shù)值孔徑:0.15~0.25
套刻精度:12nm
照明均勻性:修正前5.5/(從硅片平臺(tái)測(cè)得).修正后<0,5%(3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差)雜光:<16%.[規(guī)格<8/1
在所用過(guò)的光刻的波長(zhǎng)中,13.5nm可能不太容易被理解。從最初的g線、i線到當(dāng)今的365nm、248nm和193nm,多少還是讓人感到,我們是在做“刻”。由于193nm浸沒(méi)式的O27.0-VX3MH-LF成功,157nm的項(xiàng)日已經(jīng)終止。從157nm往下走已經(jīng)沒(méi)有什么好的光源,于是人們就找到了13.5nm的極紫外光。光刻機(jī)所用的光譜圖如圖7,109所示。
極紫外(EUV)光刻機(jī)由以下幾個(gè)部分組成:
光源:高電壓激勵(lì)的等離子體放電燈(r,lschargc Produced Plasma,DPP)或者激光激勵(lì)(I'aser Produccd Plasma,I'PP)的等離子體放電燈和反射式光收集鏡片組。
光刻機(jī)主體:包括反射鏡組(遇常為6片0.25NA)、主真空腔體(真空度<10:)、磁懸浮硅片平臺(tái)、掩膜版平臺(tái)、平臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置、硅片輸送裝置等。在~9007年,阿斯麥公司推出了埃爾法驗(yàn)證機(jī)(Alh Demo T。o1.AI)T)。如圖7.110所示「~T。其基本性能指標(biāo)為
數(shù)值孔徑:0.15~0.25
套刻精度:12nm
照明均勻性:修正前5.5/(從硅片平臺(tái)測(cè)得).修正后<0,5%(3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差)雜光:<16%.[規(guī)格<8/1
熱門點(diǎn)擊
- 光刻工藝流程
- 相移掩膜版
- 前處理工藝
- 金屬柵極有效功函數(shù)的調(diào)制
- 閑置輸入端處理方法
- 生成合金層的基本條件
- 模擬電路的工作頻率比較低、靈敏度較高
- 氮的加人可以很大程度上提高金屬柵的熱穩(wěn)定性和
- 永磁體和鐵磁體產(chǎn)生的磁場(chǎng)
- 系統(tǒng)圖和框圖的繪制
推薦技術(shù)資料
- 自制智能型ICL7135
- 表頭使ff11CL7135作為ADC,ICL7135是... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
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