在通路敏化法的基礎(chǔ)上,有一些效益更高的組合電路自動測試矢量生成方法,較著名的有D算法、PODEM算法和FAN算法。

OB2263MP

   D算法是由Roth等人提出,它克服了一維算法的局限,采用多維敏化的思想,同時敏化從故障位置到電路的所有輸出端的全部通路。他用(0,1,aˉ,D,D)五個狀態(tài)來描述電路中各個信號線的狀態(tài)。只要所考慮的故障是可測的,D算法就能夠求得該故障的測試矢量。D

算法是第一個建立在嚴(yán)格的理論基礎(chǔ)上的組合電路白動測試矢量生成算法,而且便于在計算機(jī)上實現(xiàn)。D算法的不足之處是在進(jìn)行測試生成時將大量的時問用在許多不同的路徑測試上;如果電路的規(guī)模大,往往計算很復(fù)雜,效率不高。

   PODEM算法是由Goel等人提出的。P()DEM算法吸收了窮舉法的優(yōu)點(diǎn),將原始輸人逐一設(shè)定值,對預(yù)定的故障生成測試矢量.昕以避免了許多畜目試探,減少FD算法中回溯和判決的次數(shù).測試矢量的產(chǎn)生速度快了許多。而且有較高的故障覆蓋率。PC DEM算法首先是激活故障,再將激活條件反向回溯.待滿足激活條件的原始輸人賦值以后,再進(jìn)行正向驅(qū)趕。每驅(qū)趕一個門,就對滿足驅(qū)趕條件和賦值逐個反向回溯.直到驅(qū)趕到原始輸出為止。

   FAN算法是由Fujiwara和Shim°n°提出的。FAN算法更加減少回溯和判決的次數(shù)。特點(diǎn)是:唯一確定信號的直接分配,唯一敏化,在頭線(主導(dǎo)線)停止回溯以及多路回溯。

   FAN算法在激活故障之后,首先進(jìn)行D驅(qū)趕,然后再進(jìn)行反向跟蹤,但FAN算法有特別的D驅(qū)趕和反向跟蹤算法。