自動(dòng)測矢量生成除了能夠偵測固定式故障,對于不斷發(fā)展的半導(dǎo)體技術(shù),還能夠OB2268CCPA測試其他的障礙,比如傳播延遲故障,電源噪音,串?dāng)_失效。延遲故障的檢測需要在電路所設(shè)計(jì)I作速度下測試,所以也就需要昂貴的高速測試機(jī)臺,如何在低速測試機(jī)臺完成測試,也是研究的主題。

   電源噪聲主要會降低芯片的性能,造成單元之間互連的傳播延遲和可靠性的下降,白動(dòng)生成的測試矢量必須能夠產(chǎn)生最差情況下的電源噪聲。

   此外,ATPG算法的技術(shù)也在芯片自動(dòng)化設(shè)計(jì)的領(lǐng)域當(dāng)中,包括邏輯優(yōu)化、冗余檢測、時(shí)序分析等方面都有所幫助。