內(nèi)建自測試
發(fā)布時間:2017/11/22 21:08:00 訪問次數(shù):622
內(nèi)建自測試(build in self tcst,BIsT)字面的意義來說就是將測試的矢量生成(tcstpattem geneltator) OB2273和輸出響應(yīng)分析(output responsc analyzer)的結(jié)果判斷電路設(shè)計內(nèi)建在芯片之中。芯片內(nèi)建自測試的好處有減小測試和維護代價,較低的測試生成代價,減小測試矢量的存儲維護,使用較簡單和便宜的ATE,可并行測試許多單元,縮短測試應(yīng)用時間,可在功能系統(tǒng)速度下測試,等等。如圖18.7所示為內(nèi)建自測試與測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。
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