內(nèi)建自測試測試矢量生成的方式有以下幾種:

   (1)第一種方法是將ATPG產(chǎn)生的測試矢量即刻儲存在芯片內(nèi)部的ROM中。定位測OB2354試矢量的數(shù)量相當大,會占用很大的芯片面積。

   (2)第二種方法使用線性反饋的移位寄存器(linear fcedback shift register,LFSR)產(chǎn)生偽隨機(pscud⒍landom)測試矢董,這種方法產(chǎn)生的設計需求最少,是很好的解決方案。

   (3)第三種方法是使用計數(shù)器產(chǎn)生一個窮舉測試矢量序列,但是這會耗費太多的測試時問.

   (4)第四種方法是I'FSR+ROM結(jié)合,是最有效的方法之一。首先采用LFSR作為原始測試模式,然后采用ΛTPG程序生成I'FsR漏失故障的附加測試矢量,附加測試矢量存儲于芯片內(nèi)ROM中,或嵌人到I'FSR的輸出或掃描鏈中。