可見(jiàn),靜電干擾電流的放電路徑主要有兩條:一條通過(guò)外殼流向大地(大部分電流);另一條通過(guò)內(nèi)部PCB流向大地(小部分)。靜電放電電流屬于高頻信號(hào), KA278RA05CTU集膚效應(yīng)及金屬外殼的低阻抗特性(測(cè)試中檢查了金屬外殼的搭接性能,確認(rèn)良好,如果搭接不好,也將引起額外的干擾,如案例“靜電放電十?dāng)_是如何引起的”中描述的那樣)使得大部分的靜電放電干擾電流會(huì)從金屬外殼流人大地。既然大部分的靜電放電干擾電流已經(jīng)通過(guò)金屬外殼流人大地,那為什么還會(huì)出現(xiàn)ADC的異常工作呢?ADC電路的設(shè)計(jì)肯定存在較薄弱的環(huán)節(jié)。檢查電路發(fā)現(xiàn),ADC存在模擬地和數(shù)字地,電路設(shè)計(jì)時(shí)為了使數(shù)字電路部分的干擾不影響模擬電路部分,在數(shù)字地和模擬地之問(wèn)跨接了磁珠進(jìn)行隔離:ADC原理框圖和ADC的PCB布局示意圖如圖6.41和圖6妲所示.

   由于模擬地與數(shù)字地之問(wèn)存在磁珠,當(dāng)高頻的靜電放電干擾電流流過(guò)時(shí),會(huì)在磁珠兩端產(chǎn)生壓降Δσ,如圖6,紹所示。這個(gè)壓降Δσ會(huì)對(duì)ADC產(chǎn)生什么樣的影響呢?也許會(huì)有人認(rèn)為ADC中數(shù)字電路和模擬電路是兩個(gè)相互隔離的電路,而且電平互不參考。實(shí)際上,數(shù)字電路與模擬電路之間寄生電容和磁珠的存在已使兩部分電路相互關(guān)聯(lián),因此Δσ的產(chǎn)生必然對(duì)ADC的正常工作產(chǎn)生影響。在測(cè)試中發(fā)現(xiàn),將ADC兩邊的數(shù)字地和模擬地用導(dǎo)線單點(diǎn)互連,可以通過(guò)±6kⅤ的靜電放電測(cè)試。這是因?yàn)閱吸c(diǎn)互連后,Δ〃大大降低。