劑量測試系統(tǒng)

   所謂劑量測試系統(tǒng),M24C02-RDW6TP指的是電離總劑量輻照試驗過程中對輻照劑量率和輻照總劑量進行測量的裝置和方法。劑量測試系統(tǒng)的準確性和有效性是電離總劑量輻照試驗的基礎。理論上來說,受輻射物質(zhì)中所引起的效應與吸收的輻射劑量,如電離、發(fā)熱、發(fā)光等各種物理變化、氧化還原、裂解、聚合等許多化學變化或由此引的物理性質(zhì)的變化,都可以作為輻射劑量測量的依據(jù)。目前主要的吸收劑量的測量方法有量熱法、電離室法、化學法等。量熱法是一種直接測定吸收劑量的絕對方法。其基本原理是,被輻照的物質(zhì)所吸收的輻射能量全部用來使被輻照物質(zhì)的溫度升高,這樣就可以通過測量被輻照物質(zhì)溫度的變化來確定所吸收的劑量。熱釋光劑量計就是采用量熱法的一種劑量計,其材料為C盱2。

   電離室是由處于不同電位的電極和限定在電極之問的氣體(一般為空氣)組成,通過收集囚輻射在氣體中產(chǎn)生的電子或離于運動而產(chǎn)生的電信號來定量測量電離輻射的探測器。圖3-8所示為電離室劑量儀實物。

   圖3-8 電離室劑量儀(米源于PTW網(wǎng)站)

   化學法足利用輻射在體系中引起的化學變化與體系吸收的輻射能量之問的定量關(guān)系來測定吸收劑量的方法,如硫酸亞鐵劑量計。硫酸亞鐵劑量計叉名F"cke齊刂量計,它是一種使用廣泛、精度高、穩(wěn)定性好的一種化學劑量計。

   正如前面所述,凡是提到吸收劑量,就必須指明是何種物質(zhì)的吸收劑量。囚此,用劑量計測得的劑量只代表該劑量計的吸收劑量。例如,F1ˉit・ke劑量汁測得的吸收劑量是硫酸亞鐵的吸收劑量;空氣電離室測得的吸收劑量是空氣的吸收劑量;熱釋光(C盱2)劑量計測得的吸收劑量是CaF2的吸收劑量。對半導體器件來說,吸收劑量通常是以Si吸收的劑量來表征,因此,進行試驗時,均需將上述劑量計測得的吸收劑量轉(zhuǎn)化為Si的吸收劑量。