確定試驗(yàn)源以后,需要根據(jù)器件的結(jié)構(gòu)性能確定試驗(yàn)離子的種類和數(shù)量。單粒子GAL16V8D-15LPN試驗(yàn)的目的是通過試驗(yàn)獲得單粒子截面σ―LET關(guān)系曲線,并根據(jù)關(guān)系曲線進(jìn)行單粒子事件率的預(yù)估,因此,需要選擇合適的、足夠的有效LET數(shù)據(jù)點(diǎn)。如果選取過少,所擬合得到的單粒子截面σ―LET關(guān)系曲線誤差過大,不夠準(zhǔn)確。一般情況下,為了得到單粒子截面σ-LET關(guān)系曲線,至少選用具備5種以上不同的有效LET值的離子,并且離子的有效LET應(yīng)能覆蓋被試器件從剛開始出現(xiàn)單粒子事件到單粒子事件達(dá)到飽和截面所對(duì)應(yīng)的LET范圍。對(duì)于器件的單粒子時(shí)間LET閾值范圍可以通過摸底試驗(yàn)獲得,也可以參照與被試器件結(jié)構(gòu)、工藝最接近的器件的單粒子試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行估計(jì)。

    另外,應(yīng)在試驗(yàn)方案中確定離子的入射角度、注量率,以及每種離子的輻照總注量。

   單粒子效應(yīng)類型和檢測(cè)系統(tǒng)

   在單粒子試驗(yàn)過程中,測(cè)試器件的單粒子效應(yīng)是一項(xiàng)復(fù)雜的技術(shù),不同的器件類型具有不同的單粒子效應(yīng),如存儲(chǔ)器類的單粒子翻轉(zhuǎn)、DαDC器件的單粒子瞬態(tài)和單粒子燒毀等。而且,對(duì)同一器件,不同的測(cè)試方法或不同的測(cè)試程序,其測(cè)試結(jié)果往往不相同,甚至相差很大。

    因此,需要在試驗(yàn)方案中確定需要測(cè)試的單粒子效應(yīng)、方法和程序。在下一節(jié)中將會(huì)給出幾種不同類型器件的單粒子效應(yīng)測(cè)試方法。

   試驗(yàn)流程

   單粒子試驗(yàn)流程可以參考圖3-17和圖3-18制定。