儀器靈敏度校準

   除用上述所示的靈敏度檢測裝置(STU)來定期評定PIND系統(tǒng)的性能外,還可以G1431F2U用以下方法進行儀器靈敏度校準:將事先放入硅鋁絲引線作為模擬粒子的空體外殼耦合在振動臺上,此時應有明顯粒子的信號輸出。將另一只同樣尺寸但其內部沒有任何粒子的標準容器重復上述試驗,此時示波器上應顯示出一條水平直線(除了背景噪聲外無粒子噪聲信號),若此時發(fā)現(xiàn)有尖峰信號,應找出具體原因,并設法排除。

   試驗程序及方法

   (l)將試驗樣品(微電路等有內腔的密封件)的最平滑、最大的一面用聲耦合劑黏合在振動臺上。

   (2)設置試驗程序。

   ①先施以峰值加速度為(98O0±196ω ll△/′,一般選100比,延續(xù)時間不大于100Its的 沖擊脈沖,沖擊3次。

   ②再施以頻率為ω~130Hz,這里頻率的選擇與器件的內腔高度有關,如表⒋12所示。峰值加速度為196111s2或98Ws2的振動,振動時問3s±ls,上述程序循環(huán)4次,再對試驗程序進行全面的檢查,需連續(xù)按下“DSP”按鈕。

   (3)試驗判據(jù):在監(jiān)測中,若由檢測設備指示出除背景噪聲之外的任何噪聲爆發(fā)(由沖擊本身引起的除外),都應導致器件拒收。

   除另有規(guī)定外,批接收試驗中用于篩選的檢驗批(或子批)檢查,應按條件A的要求進行最多5次的100%PIND試驗。不應進行PIND預篩選e在進行的5次試驗中,只要有一次試驗的失效器件數(shù)少于1%,則認為該批器件通過了試驗。在每次試驗后剔除失效的器件,若第5次試驗時,失效器件數(shù)仍不小于l%或5次累計失效數(shù)超過25%,則該批器件應被拒收,并且不允許對其重新進行試驗。