二極管/晶體管
發(fā)布時(shí)間:2012/10/13 20:08:09 訪問(wèn)次數(shù):568
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;AT697E-2E-MQ
洌試電流:lUA~lOOmA(6個(gè)范圍);
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步;
測(cè)試誤差:0.5%。
功能測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:最大可達(dá)250mA;
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步。
跨線測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試電平:O.lV;
測(cè)試電流:最大為50mA、最小為1UA;
測(cè)試時(shí)間:2ms/步;
測(cè)試范圍:5Q~4MQ可調(diào)。
數(shù)字晶體管。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:5V;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:l~lOOmA;
測(cè)試誤差:1%。
光電耦合器。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:4V;
QFP、ASIC器件需增加選件測(cè)試。
其他特殊功能。
Concord ICT-T323有下列特殊功能:通過(guò)波形分析儀能直接在顯示屏上讀出大電解電容的延遲時(shí)間,無(wú)須盲目多次嘗試;具有雙壓頭功能并能同時(shí)測(cè)試兩種不同型號(hào)的SMA,極大地增加了設(shè)備的利用率。
Teradyne ICT-Spectrum有下列特殊功能:采用VXI總線背板,可以集成符合該總線標(biāo)準(zhǔn)的儀表,實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試和功能測(cè)試相結(jié)合的目標(biāo);對(duì)Flash Memory等可編程器件進(jìn)行在線寫(xiě)程序。
洌試電流:lUA~lOOmA(6個(gè)范圍);
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步;
測(cè)試誤差:0.5%。
功能測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:最大可達(dá)250mA;
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步。
跨線測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試電平:O.lV;
測(cè)試電流:最大為50mA、最小為1UA;
測(cè)試時(shí)間:2ms/步;
測(cè)試范圍:5Q~4MQ可調(diào)。
數(shù)字晶體管。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:5V;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:l~lOOmA;
測(cè)試誤差:1%。
光電耦合器。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:4V;
QFP、ASIC器件需增加選件測(cè)試。
其他特殊功能。
Concord ICT-T323有下列特殊功能:通過(guò)波形分析儀能直接在顯示屏上讀出大電解電容的延遲時(shí)間,無(wú)須盲目多次嘗試;具有雙壓頭功能并能同時(shí)測(cè)試兩種不同型號(hào)的SMA,極大地增加了設(shè)備的利用率。
Teradyne ICT-Spectrum有下列特殊功能:采用VXI總線背板,可以集成符合該總線標(biāo)準(zhǔn)的儀表,實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試和功能測(cè)試相結(jié)合的目標(biāo);對(duì)Flash Memory等可編程器件進(jìn)行在線寫(xiě)程序。
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;AT697E-2E-MQ
洌試電流:lUA~lOOmA(6個(gè)范圍);
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步;
測(cè)試誤差:0.5%。
功能測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:最大可達(dá)250mA;
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步。
跨線測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試電平:O.lV;
測(cè)試電流:最大為50mA、最小為1UA;
測(cè)試時(shí)間:2ms/步;
測(cè)試范圍:5Q~4MQ可調(diào)。
數(shù)字晶體管。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:5V;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:l~lOOmA;
測(cè)試誤差:1%。
光電耦合器。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:4V;
QFP、ASIC器件需增加選件測(cè)試。
其他特殊功能。
Concord ICT-T323有下列特殊功能:通過(guò)波形分析儀能直接在顯示屏上讀出大電解電容的延遲時(shí)間,無(wú)須盲目多次嘗試;具有雙壓頭功能并能同時(shí)測(cè)試兩種不同型號(hào)的SMA,極大地增加了設(shè)備的利用率。
Teradyne ICT-Spectrum有下列特殊功能:采用VXI總線背板,可以集成符合該總線標(biāo)準(zhǔn)的儀表,實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試和功能測(cè)試相結(jié)合的目標(biāo);對(duì)Flash Memory等可編程器件進(jìn)行在線寫(xiě)程序。
洌試電流:lUA~lOOmA(6個(gè)范圍);
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步;
測(cè)試誤差:0.5%。
功能測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:最大可達(dá)250mA;
測(cè)試時(shí)間:7~25ms/步。
跨線測(cè)試。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
測(cè)試電平:O.lV;
測(cè)試電流:最大為50mA、最小為1UA;
測(cè)試時(shí)間:2ms/步;
測(cè)試范圍:5Q~4MQ可調(diào)。
數(shù)字晶體管。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:5V;
測(cè)試范圍:0.1~39.9V;
測(cè)試電流:l~lOOmA;
測(cè)試誤差:1%。
光電耦合器。
測(cè)試方式:加載直流電壓;
偏載范圍:4V;
QFP、ASIC器件需增加選件測(cè)試。
其他特殊功能。
Concord ICT-T323有下列特殊功能:通過(guò)波形分析儀能直接在顯示屏上讀出大電解電容的延遲時(shí)間,無(wú)須盲目多次嘗試;具有雙壓頭功能并能同時(shí)測(cè)試兩種不同型號(hào)的SMA,極大地增加了設(shè)備的利用率。
Teradyne ICT-Spectrum有下列特殊功能:采用VXI總線背板,可以集成符合該總線標(biāo)準(zhǔn)的儀表,實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試和功能測(cè)試相結(jié)合的目標(biāo);對(duì)Flash Memory等可編程器件進(jìn)行在線寫(xiě)程序。
上一篇:飛針式測(cè)試儀
上一篇:針床制造與測(cè)量
熱門(mén)點(diǎn)擊
- 錫的物理和化學(xué)性質(zhì)
- 乙二醇醚類(lèi)溶劑
- X射線檢測(cè)儀
- 印刷機(jī)工藝參數(shù)的調(diào)節(jié)與影響
- LC正弦波振蕩器實(shí)驗(yàn)電路
- 使用電烙鐵應(yīng)注意的問(wèn)題
- 貼片頭
- 用于表面安裝的二極管有三種封裝
- 焊接工藝窗口
- 拼板工藝
推薦技術(shù)資料
- 驅(qū)動(dòng)板的原理分析
- 先來(lái)看看原理圖。圖8所示為底板及其驅(qū)動(dòng)示意圖,F(xiàn)M08... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開(kāi)
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門(mén)信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究