下列情形均會(huì)導(dǎo)致元器件兩邊的潤(rùn)濕力不平衡
發(fā)布時(shí)間:2012/10/13 20:17:28 訪問(wèn)次數(shù):993
下列情形均會(huì)導(dǎo)致AT697E-KG-E元器件兩邊的潤(rùn)濕力不平衡。
1.焊盤設(shè)計(jì)與布局不合理
如果元器件的兩邊焊盤之一與地相連接或有一側(cè)焊盤面積過(guò)大,則會(huì)因熱熔量不均勻而引起潤(rùn)濕力的不平衡。PCB表面各處的溫度差過(guò)大以致元器件焊盤吸熱不均勻。大型器件QFP、BGA、散熱器周圍的小型片式元器件也同樣出現(xiàn)溫度不均勻。
解決辦法是改善焊盤的設(shè)計(jì)與布局。
2.錫膏與錫膏印刷
錫膏的活性不高或元器件的可焊性差,錫膏熔化后,表面張力不一樣,同樣會(huì)引起焊盤潤(rùn)濕力不均勻。兩焊盤的錫膏印刷量不均勻,多的一邊會(huì)因錫膏吸熱量增多,熔化時(shí)間滯后,以致潤(rùn)濕力不均勻。
解決辦法是選用活性較高的錫膏,改善錫膏印刷參數(shù),特別是模板的窗口尺寸。
3.貼片
Z軸方向受力不均勻會(huì)導(dǎo)致元器件浸入到錫膏中的深度不均勻,熔化時(shí)會(huì)因時(shí)間差而導(dǎo)致兩邊的潤(rùn)濕力不均勻。
元器件貼片移位會(huì)直接導(dǎo)致立碑,如圖15.92所示。
下列情形均會(huì)導(dǎo)致AT697E-KG-E元器件兩邊的潤(rùn)濕力不平衡。
1.焊盤設(shè)計(jì)與布局不合理
如果元器件的兩邊焊盤之一與地相連接或有一側(cè)焊盤面積過(guò)大,則會(huì)因熱熔量不均勻而引起潤(rùn)濕力的不平衡。PCB表面各處的溫度差過(guò)大以致元器件焊盤吸熱不均勻。大型器件QFP、BGA、散熱器周圍的小型片式元器件也同樣出現(xiàn)溫度不均勻。
解決辦法是改善焊盤的設(shè)計(jì)與布局。
2.錫膏與錫膏印刷
錫膏的活性不高或元器件的可焊性差,錫膏熔化后,表面張力不一樣,同樣會(huì)引起焊盤潤(rùn)濕力不均勻。兩焊盤的錫膏印刷量不均勻,多的一邊會(huì)因錫膏吸熱量增多,熔化時(shí)間滯后,以致潤(rùn)濕力不均勻。
解決辦法是選用活性較高的錫膏,改善錫膏印刷參數(shù),特別是模板的窗口尺寸。
3.貼片
Z軸方向受力不均勻會(huì)導(dǎo)致元器件浸入到錫膏中的深度不均勻,熔化時(shí)會(huì)因時(shí)間差而導(dǎo)致兩邊的潤(rùn)濕力不均勻。
元器件貼片移位會(huì)直接導(dǎo)致立碑,如圖15.92所示。
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