IC的可靠性包含了許多方面,從設汁、I藝到封裝、測試,也就是說一個￡產(chǎn)品從開發(fā)到最后出廠,VEJ101M1V0810-TR0每個環(huán)節(jié)都涉及它的可靠性�！甑纳a(chǎn)流程常常有 巢幾十步甚至上百步,其中的每一步都可能是導致最后失效的原因,這就需要精確細致地進行失效分析。通�！戤a(chǎn)品的壽命為10年,產(chǎn)品可靠性要求保證其中的元件在這個時間范圍內性能可靠。

    以加速應力試驗對新器件進行人為“老化”,得到的失效率隨時問的變化曲線如圖1413所示,稱為“浴盆”曲線。早期失效反映的是由于缺陷等引起的器件 性能退化,在可靠性測試中應予以剔除。其后的兩部分隨機失效和耗損,反映的是器件的本征退化,表征器件平均有效壽命。

    產(chǎn)品可靠性有三個主要元素:設計可靠性、工藝可靠性和組裝可靠性。若這三者都能達到產(chǎn)品壽命的要求,產(chǎn)品的可靠性就可以得到保證。對應于產(chǎn)品從開發(fā)到交付用戶使用的各個階段,可靠性測試也有不同的日的:①研制階段,使產(chǎn)品達到預定的可靠性指標;②生產(chǎn)過程中,不斷監(jiān)控以提高產(chǎn)品質量; ③制定合理I藝篩選條件;①對產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收.