傳統(tǒng)上,IC測試與設(shè)計的關(guān)系只是測試時以設(shè)計為標準和依據(jù),設(shè)計出相應(yīng)的測試方案。這種T74LS174情況隨著集成電路的發(fā)展也產(chǎn)生著必然的變化。由于電路規(guī)模的增大、電路結(jié)構(gòu)的復(fù)雜化,℃測試的難度也隨之增加。為了降低測試成本,在設(shè)計階段考慮到測試的需要,增加相應(yīng)的結(jié)構(gòu),以降低測試難度,這就是可測性設(shè)計(DFT)。

   DFT的基本原則可概括如下:

   ①將模擬部分與數(shù)字部分在物理結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能上盡可能分開;

   ②電路內(nèi)部所有鎖存器和觸發(fā)器可以初始化;

   ③避免所有可能的異步和多余結(jié)構(gòu);

   ④避免出現(xiàn)競爭;

   ⑤提供內(nèi)部模塊的控制、檢測手段;

   ⑥反饋通路可以斷開;

   ⑦謹慎使用有線邏輯;

   ⑧使用控制、測試點;

   ⑨使用分割、選擇控制。