失效分析是一系列嚴(yán)謹(jǐn)、 SN74HC04PWLE邏輯性地解決問題的過程。任何隨意的、缺乏縝密計(jì)劃的分析可能破壞結(jié)果的一致性,導(dǎo)致錯(cuò)誤的分析結(jié)果。囚此,失效分析必須遵守一定的原則。(D先非破壞性分析,后破壞性分析:這一原則始終貫穿于分析的每一個(gè)關(guān)鍵步驟。可靠性試驗(yàn)后失效的樣品數(shù)目通常很少,電性表征完成后,常需進(jìn)行外觀檢測(cè)和非破壞性分析,如X Ray,SAM。

   好壞樣品的電性比較,失效分析尤其失效定位是非常關(guān)鍵的原則。電性表征時(shí),由于實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)和半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的局限性或?qū)κМa(chǎn)品、參數(shù)和參數(shù)程序理解的局限性,所測(cè)的電性特征有時(shí)無法完全模擬復(fù)雜、昂貴的自動(dòng)測(cè)試機(jī)(ATE)的測(cè)試程序和設(shè)置。對(duì)好壞樣品的電特性進(jìn)行比較,分析差異,找出可能導(dǎo)致失效的特性,在后續(xù)失效定位時(shí)設(shè)置合理的偏置條件,激勵(lì)失效線路,有效定位。

   失效定位盡可能定到最小的器件單元,越精準(zhǔn)的失效定位,后續(xù)物理失效分析和化學(xué)分析成功發(fā)現(xiàn)失效機(jī)理的幾率越高。

此外,進(jìn)行失效分析還要考慮以下幾個(gè)原則:

   (1)接件時(shí)先進(jìn)行可行性分析,失效分析常常費(fèi)時(shí)耗力,如果不值得或無法分析,就不要浪費(fèi)寶貴的時(shí)間和資源。

   (2)要模擬、重現(xiàn)失效模式。

   (3)分析時(shí)遵循物理原理。