原子力掃描鏡原理和探針示意圖
發(fā)布時間:2017/11/15 20:29:31 訪問次數(shù):556
圖14,15~圖11,19分別碰示原子力掃描鏡原理示意圖和探針示意圖、基于掃描電子顯微鏡的Zyvex KZ10O sEM納米探針系統(tǒng)外觀及掃描電子顯微鏡圖及其最常見應(yīng)用:測量SRΛM單比特中品體管特性曲線。基于掃描電子顯微鏡′的納米探針在失效分析中的實際應(yīng)用,請參閱本章最后的案例分析。 TC74VHC244FEL
圖14,15~圖11,19分別碰示原子力掃描鏡原理示意圖和探針示意圖、基于掃描電子顯微鏡的Zyvex KZ10O sEM納米探針系統(tǒng)外觀及掃描電子顯微鏡圖及其最常見應(yīng)用:測量SRΛM單比特中品體管特性曲線。基于掃描電子顯微鏡′的納米探針在失效分析中的實際應(yīng)用,請參閱本章最后的案例分析。 TC74VHC244FEL
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