Scatter pIot(散點(diǎn)圖)和CDF pIot(累積概率圖)

   在考查變量之閘的關(guān)系時(shí),常常利用scatter plo1。此外,利用symb°l或者color對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)乍j lx分,可以非常有效地把數(shù)據(jù)的白然分組可視化。TC74VHC244FEL

    圖17.32表示一個(gè)典型的利用scatter plot進(jìn)行dev/lce split分析的案例。由圖可以發(fā)現(xiàn),相比baseline的wafer,某些split在Idoff方面明顯變差。 CDF plot通常用于觀測(cè)數(shù)據(jù)是否正態(tài)分布,或者用于發(fā)現(xiàn)異常點(diǎn)、異常分布。圖17,33表示利用CDF plot發(fā)現(xiàn)某sp1it存在嚴(yán)重的leakage問(wèn)題。通常,類(lèi)似圖中標(biāo)出的tad部分嚴(yán)重偏離主體分布,往往意味著和主體不一樣的物理機(jī)制在起作用。