Scatter pIot(散點圖)和CDF pIot(累積概率圖)

   在考查變量之閘的關系時,常常利用scatter plo1。此外,利用symb°l或者color對數(shù)據(jù)點進乍j lx分,可以非常有效地把數(shù)據(jù)的白然分組可視化。TC74VHC244FEL

    圖17.32表示一個典型的利用scatter plot進行dev/lce split分析的案例。由圖可以發(fā)現(xiàn),相比baseline的wafer,某些split在Idoff方面明顯變差。 CDF plot通常用于觀測數(shù)據(jù)是否正態(tài)分布,或者用于發(fā)現(xiàn)異常點、異常分布。圖17,33表示利用CDF plot發(fā)現(xiàn)某sp1it存在嚴重的leakage問題。通常,類似圖中標出的tad部分嚴重偏離主體分布,往往意味著和主體不一樣的物理機制在起作用。