在系統(tǒng)檢測(cè)成像全過(guò)程中,探針和被測(cè)樣品間的距離始終保持在納米量級(jí),距離太SA2132大不能獲得樣品表面的信息,距離太小會(huì)損傷探針和被測(cè)樣品,反饋回路(feedback)的作用就是在工作過(guò)程中,由探針得到探針與樣品相互作用的強(qiáng)度,來(lái)改變加在樣品掃描器垂直方向的電壓,從而使樣品伸縮,調(diào)節(jié)探針和被測(cè)樣品間的距離,反過(guò)來(lái)控制探針與樣品相互作用的強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)反饋控制。

   工作模式

   原子力顯微鏡的T匚作模式是以針尖L,ˉ樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的,主要有以下3種操作模式:接觸模式(contact mode)、非接觸模式(n°n_contact modc)和敲擊模式(tapping mode)。