超淺結(jié)對(duì)MOS電性參數(shù)的影響
發(fā)布時(shí)間:2017/11/12 16:41:08 訪問次數(shù):1091
超淺結(jié)(ultraˉshallow junction)是指對(duì)源極和漏極PN結(jié)深度的處理。R05107ANP-021為了對(duì)應(yīng)橫向制程微縮所帶來的嚴(yán)重的短通道效應(yīng),結(jié)的縱向深度也必須進(jìn)行向上調(diào)整,以減少源極和漏極問空乏區(qū)互相接觸所帶來的漏電流(su卜threshold leak),這個(gè)過程中通常伴隨摻雜濃度 的提升以彌補(bǔ)因結(jié)變淺所帶來的串聯(lián)阻值的增加。
邏輯電路所使用的源極和漏極junction包含兩個(gè)部分,=為1'DD(Iightly DooedDrain),一為Nˉ或P(見圖12.3)。1'1)D是指在spaccr下面一個(gè)比較淺的junction,主要是用來控制通道內(nèi)的電場(chǎng)分布和強(qiáng)度以抑制熱電子效應(yīng)(hot carricr effect)。隨著制程的演進(jìn),I'DD的深度在65nm以下也已達(dá)到⒛0A左右,ml所用的濃度與N_/P相比也不遑多。
超淺結(jié)(ultraˉshallow junction)是指對(duì)源極和漏極PN結(jié)深度的處理。R05107ANP-021為了對(duì)應(yīng)橫向制程微縮所帶來的嚴(yán)重的短通道效應(yīng),結(jié)的縱向深度也必須進(jìn)行向上調(diào)整,以減少源極和漏極問空乏區(qū)互相接觸所帶來的漏電流(su卜threshold leak),這個(gè)過程中通常伴隨摻雜濃度 的提升以彌補(bǔ)因結(jié)變淺所帶來的串聯(lián)阻值的增加。
邏輯電路所使用的源極和漏極junction包含兩個(gè)部分,=為1'DD(Iightly DooedDrain),一為Nˉ或P(見圖12.3)。1'1)D是指在spaccr下面一個(gè)比較淺的junction,主要是用來控制通道內(nèi)的電場(chǎng)分布和強(qiáng)度以抑制熱電子效應(yīng)(hot carricr effect)。隨著制程的演進(jìn),I'DD的深度在65nm以下也已達(dá)到⒛0A左右,ml所用的濃度與N_/P相比也不遑多。
熱門點(diǎn)擊
- 熱載流子效應(yīng)(HCl)
- OBIRCH熱點(diǎn)域處找到的缺陷
- 超淺結(jié)對(duì)MOS電性參數(shù)的影響
- 提高填充能力最直接的辦法是控制人射粒子的方向
- 主流阻擋層研磨液的主要成分及作用
- 電動(dòng)式傳聲器的原理
- DFM展望
- 溝道摻雜濃度梯度分布圓柱體全包圍柵無結(jié)
- sMT的工藝流程
- 金屬硅化物對(duì)MOS電性參數(shù)的影響
推薦技術(shù)資料
- 頻譜儀的解調(diào)功能
- 現(xiàn)代頻譜儀在跟蹤源模式下也可以使用Maker和△Mak... [詳細(xì)]
- 超低功耗角度位置傳感器參數(shù)技術(shù)
- 四路輸出 DC/DC 降壓電源
- 降壓變換器和升降壓變換器優(yōu)特點(diǎn)
- 業(yè)界首創(chuàng)可在線編程電源模塊 m
- 可編程門陣列 (FPGA)智能 電源解決方案
- 高效先進(jìn)封裝工藝
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究