1.接觸模式

   從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣,SA25F005L在整個(gè)掃描成像過程屮,探針針尖始終與樣品表面保持親密的接觸,而相互作用力是排斥力。掃描時(shí),懸臂施加在針尖卜的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu),囚此力的大小范圍在10Ⅱ~10ⅡN。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力,便不宜選用接觸模式對(duì)樣品表面進(jìn)行成像。

   2.非接觸模式

   非接觸模式探測(cè)試樣表面時(shí)懸臂在距離試樣表面上方5~10nm的距離處振蕩。這時(shí),樣品勹針尖之間的相互作用由范德華力控制,通常為10ⅡN,樣品不會(huì)被破壞,而且針尖也不會(huì)被污染,特別適合于研究柔嫩物體的表面。這種操作模式的不利之處在于要在室溫大氣環(huán)境下實(shí)現(xiàn)這種模式十分困難,l,,l為樣品表面不叮避免地會(huì)積聚薄薄的一層水,它會(huì)在樣品與針尖之間搭起一小小的毛細(xì)橋,將針尖與表面吸在一起,從增加尖端對(duì)表面的壓力。