FIB的原理與SEM相似,主要差別在于FIB使用離子束作為人射源,ΠB的外加電場作用于液態(tài)金屬離子源, SD6271使液態(tài)金屬或合金形成細(xì)小尖端,再加L負(fù)電場牽引尖端的技術(shù)或合金,導(dǎo)出離子束,通過靜電透鏡聚焦,經(jīng)過一連串可變化孔徑改變離子束大小,然后用質(zhì)量分析器篩選出所要的離子種類,最后通過八極偏轉(zhuǎn)裝置及物鏡將離子束聚焦在樣品卜許捫 描.離子束轟擊樣品,產(chǎn)生二次電子和離子被收集作為影像的來源,或用物理碰撞來實(shí)現(xiàn)切割汀。而離子束比電子具有更大的電量及質(zhì)量,當(dāng)其人射到固態(tài)樣品卜時(shí)會(huì)造成一連串的撞擊及能量傳遞,且在樣品表面發(fā)牛氣化、離f化等現(xiàn)象,并濺出巾性原f、離子、及電磁波刊攵集離子束轟擊樣″:產(chǎn)生的二次電子和△次離f.獲得聚焦離f束眼微圖像，HB系統(tǒng)亦可視為利用靜電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的顯微切割儀器.離f束噴濺LJ有機(jī)氣體協(xié)作則可完成導(dǎo)體沉積。雙束「IB系統(tǒng),在以離子束切割時(shí).用電了束觀察影像,除r可避免離f束繼續(xù)Ⅱ破壞現(xiàn)場”外,尚可有效地提高影像分辨率。商川場發(fā)射雙束聚焦離F束系統(tǒng).如Dual bcam833.其掃捕電鏡分辨率可達(dá)sFm。同時(shí)也叮配備、光能譜分析儀或(I工次離子質(zhì)譜儀),作尢素分析之用,多樣化的分析功能使得聚焦離子束私微鏡的便利性及使用率大幅捉升。