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IDDQ測試

發(fā)布時間:2017/11/22 20:37:39 訪問次數(shù):1195

   CMOS電路的特性在靜態(tài)時的電流消耗非常低,但是如果電路存在缺陷,那就可OB2211能引起異常的漏電流.這就是J丨ΙQ測試(quie`ccnt I丨I)的基本原理:對于一組電路正常的芯片來說.它們的靜態(tài)電流全呈現(xiàn)止態(tài)分布∷吧圖ls`).岡此.從這組分布.可以定下靜態(tài)電源電流的測試標(biāo)準(zhǔn)。對于超出電流柝準(zhǔn)昀芯葉.即使芯片的功能測試是正常的.也判定為失效。相對于其他的測試項日.JI”Q測試的優(yōu)點有測試時問短、可以提升町靠度、提高可測試度、降低功耗等。

      

 

   CMOS電路的特性在靜態(tài)時的電流消耗非常低,但是如果電路存在缺陷,那就可OB2211能引起異常的漏電流.這就是J丨ΙQ測試(quie`ccnt I丨I)的基本原理:對于一組電路正常的芯片來說.它們的靜態(tài)電流全呈現(xiàn)止態(tài)分布∷吧圖ls`).岡此.從這組分布.可以定下靜態(tài)電源電流的測試標(biāo)準(zhǔn)。對于超出電流柝準(zhǔn)昀芯葉.即使芯片的功能測試是正常的.也判定為失效。相對于其他的測試項日.JI”Q測試的優(yōu)點有測試時問短、可以提升町靠度、提高可測試度、降低功耗等。

      

 

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