由于要求測試的芯粒數(shù)巨大,并且生產(chǎn)企業(yè)對單臺測試設(shè)備的產(chǎn)能需求等均要求點(diǎn)測機(jī)具有超快的測試速度,這就要求測試機(jī)具有很短的運(yùn)動時(shí)間和測試時(shí)間,MLV-L20D一般在毫秒(ms)級別,通常點(diǎn)測機(jī)每小時(shí)能點(diǎn)測⒛000~35000顆芯粒。點(diǎn)測機(jī)測試每顆芯粒的時(shí)間雖然很短,但是其測試內(nèi)容并不少,一般會根據(jù)需求測試幾個(gè)電流下(如3~4個(gè))電壓(竹)、波長(峰值波長%和主波長9‰)、亮度(LoP)等,還能測試一定反向電流下對應(yīng)的電壓值(‰d)、^定反向電壓下的漏電流值(再),如果測試機(jī)臺加有靜電發(fā)生器,還能測試出一定電壓下芯粒的抗靜電能力(EsD)。每一種參數(shù)的測試時(shí)間在幾毫秒到十幾毫秒之間。

   由于某些測試(如‰d、EsD)對芯粒有一定的破壞性,因此對于各項(xiàng)光電參數(shù)測試的順序有一定講究,一般會先測試再,然后是各電流下的/f、冫‰、飾、LOP等,然后是‰,最后才是測試ESD,對芯粒加靜電信號后,然后再測試某反向電壓下的漏電流,用此漏電流的大小衡量該芯粒的抗靜電能力。