新建仿真文件，“Name”名稱取“Param”，“Simulation Setting”窗口中先在“Analysis type”下拉列表框中選擇分析類型為“AC Sweep”。選項(xiàng)“General Setting”下的設(shè) HCF4069UM013TR

置同交流分析(1 Hz;lOOmegHz;10)。

    在“Option”中勾選“Parametric Sweep”，。參數(shù)掃描分析中可以掃描的類型和直流掃描分析(DC Sweep)是相同的。這里設(shè)置的電阻R屬于全局變量(Global parameter)。

   單擊圖4.3.18中的“確定”按鈕后，再單擊仿真工具欄中的旒，運(yùn)行仿真。屏幕會出現(xiàn)執(zhí)行模擬功能，進(jìn)行分析。模擬結(jié)束后，會出現(xiàn)七項(xiàng)模擬結(jié)果的波形資料，確認(rèn)后結(jié)束對話框，即可以得到如圖4.3.19所示的分析結(jié)果。

   在參數(shù)分析的基礎(chǔ)上還可以進(jìn)行電路測量性能的分析，定量地分析電路特性函數(shù)隨某一個元器件參數(shù)的變化情況，對電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)也有很大的幫助。步驟是：

   在參數(shù)分析結(jié)束后，在Probe窗口下選擇Trace/Performance Analysis命令或者單擊濺按鈕。選擇菜單會出現(xiàn)如圖4.3.20所示的對話框，表示對測量性能分析注釋說明。單擊“確定”按鈕后會在圖4.3.19的基礎(chǔ)上多出一個窗口。