相位襯度
發(fā)布時(shí)間:2017/11/16 20:12:41 訪問次數(shù):1308
相位襯度:衍射束SC1088和透射束或衍射束和衍射束由于物質(zhì)的傳遞引起的波的相位的差別麗形成的襯度。當(dāng)樣品薄至100nm以下時(shí),電子可以傳過樣品,波的振幅變化可以忽略,成像來自于相位的變化。
TEM樣品制備
透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會(huì)影響到最后的成像質(zhì)量,所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)樣品需要處理得很薄,通常為50~100nm。樣品的一般制備方法有:粉碎方法、電解減薄方法、機(jī)械研磨減薄方法、化學(xué)減薄方法、超薄切片方法、離子減薄方法、聚焦離子束方法和真空蒸涂方法。
相位襯度:衍射束SC1088和透射束或衍射束和衍射束由于物質(zhì)的傳遞引起的波的相位的差別麗形成的襯度。當(dāng)樣品薄至100nm以下時(shí),電子可以傳過樣品,波的振幅變化可以忽略,成像來自于相位的變化。
TEM樣品制備
透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會(huì)影響到最后的成像質(zhì)量,所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)樣品需要處理得很薄,通常為50~100nm。樣品的一般制備方法有:粉碎方法、電解減薄方法、機(jī)械研磨減薄方法、化學(xué)減薄方法、超薄切片方法、離子減薄方法、聚焦離子束方法和真空蒸涂方法。
熱門點(diǎn)擊
- 掃描電鏡的分辨率
- 互連層RC延遲的降低
- Cu CMP產(chǎn)生的缺陷
- 俄歇電子
- 熱點(diǎn)檢測(cè)失效定位
- 先進(jìn)工藝對(duì)Cu cMP的挑戰(zhàn)
- 關(guān)鍵區(qū)域(criticaI area)簡(jiǎn)介
- 相位襯度
- 應(yīng)力記憶技術(shù)的刻蝕
- 具有高M(jìn)EEF的圖形會(huì)減少全芯片的工藝窗口
推薦技術(shù)資料
- 自制經(jīng)典的1875功放
- 平時(shí)我也經(jīng)常逛一些音響DIY論壇,發(fā)現(xiàn)有很多人喜歡LM... [詳細(xì)]
- 觸摸屏控制器ADS7845數(shù)字接口和應(yīng)用說明
- 16-40MHz 10位總線LVDS隨機(jī)鎖解
- SDG800系列信號(hào)源的EasyPulse技
- 三相T/6正弦波形發(fā)生器電路圖應(yīng)用詳解
- 高性能示波器RIGOL CAN-FD總線分析
- DG5000 Pro系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究