缺陷――隨機性和系統(tǒng)性缺陷
發(fā)布時間:2017/11/19 17:32:53 訪問次數(shù):1300
缺陷――隨機性和系統(tǒng)性缺陷OMAP1623B1ZWE
缺陷一般會導致功能性測試失敗,例如存儲器的讀、寫異常,邏輯電路的運算結(jié)果錯誤,等等。引起失效的缺陷,從來源上講可能是可見的,也有可能是不可見的(如清洗丁藝產(chǎn)生的靜電),見圖17,13。
從空間分布特征上看,可能是隨機性分布,或者具有某種系統(tǒng)性特征。Systematic缺陷,在wafer上經(jīng)常表現(xiàn)出Cluster fad,或者很強的spatial pattcrn。而隨機性缺陷一般不表現(xiàn)出聚集效應。
缺陷――隨機性和系統(tǒng)性缺陷OMAP1623B1ZWE
缺陷一般會導致功能性測試失敗,例如存儲器的讀、寫異常,邏輯電路的運算結(jié)果錯誤,等等。引起失效的缺陷,從來源上講可能是可見的,也有可能是不可見的(如清洗丁藝產(chǎn)生的靜電),見圖17,13。
從空間分布特征上看,可能是隨機性分布,或者具有某種系統(tǒng)性特征。Systematic缺陷,在wafer上經(jīng)常表現(xiàn)出Cluster fad,或者很強的spatial pattcrn。而隨機性缺陷一般不表現(xiàn)出聚集效應。
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相關技術資料- 11-19缺陷――隨機性和系統(tǒng)性缺陷
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