在儲存器的測試中,BIST設(shè)計測試是比較容易達成的。例如,儲存器的掃描圖形(sca n pattcrn)、OB2354AP行進圖形(march pattern)的地址信號產(chǎn)生是規(guī)則而且重復的,從0逐一累加到最大地址,或從最大地址逐一遞減到0,在電路的設(shè)計上可以用計數(shù)器簡單達成。內(nèi)建儲存器 的%C芯片的測試都會采用這種測試設(shè)計(memBIST,MBIST)。

   蔣安平,馮建華,工新安,譯.超大規(guī)模集成電路測試――數(shù)字、儲存器和混合信號系統(tǒng)。北京:電子工業(yè)出版社,⒛05。

   雷紹充,紹志標,梁峰。超大規(guī)模集成電路測試。北京:電子I業(yè)丨H版社,2008。

   潘中良.系統(tǒng)芯片的設(shè)計與測試,北京:科學出版社,2009

   陳力穎,王猛,譯,最新集成電路系統(tǒng)設(shè)計、驗證與測試北京:電子I業(yè)出版社,2008.

   高成,張棟,王香芬。最新集成電路測試技術(shù)川匕京:國防I業(yè)出版社2009。